[发明专利]一种基于量子弱测量的声检测装置及声检测方法有效

专利信息
申请号: 201610357547.6 申请日: 2016-05-25
公开(公告)号: CN106052840B 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 何永红;李东梅 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 王震宇
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种基于量子弱测量的声检测装置及方法,在马赫泽德干涉系统的参考臂和测量臂分光处之前设置有第一线性偏振片,在参考臂和测量臂的两束光耦合处之后设置有第二线性偏振片,所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片的偏振方向接近于正交又不完全正交以得到弱测量理论要求的有效的弱值,其中在所述参考臂和所述测量臂的光路上分别设置有容纳透明介质的介质池,在所述测量臂的透明介质中耦合待测量的声场,通过所述测量臂的介质中耦合的声场来改变介质的折射率,从而使得通过所述参考臂和所述测量臂的光之间产生相位差,利用频域弱测量得到待测量的声场的声压值。本发明提升了声传感器的性能,可以探测普通声传感器探测不到的低声场。
搜索关键词: 一种 基于 量子 测量 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于量子弱测量的声检测装置,包括马赫泽德干涉系统,所述马赫泽德干涉系统包括参考臂和测量臂,其特征在于,在所述参考臂和所述测量臂分光处之前设置有第一线性偏振片,在所述参考臂和所述测量臂的两束光耦合处之后设置有第二线性偏振片,其中所述第一线性偏振片用于前选择出系统的初态,所述第二线性偏振片用于后选择出系统的测量态,其中所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片的偏振方向接近于正交又不完全正交以得到弱测量理论要求的有效的弱值,其中在所述参考臂和所述测量臂的光路上分别设置有容纳透明介质的介质池,在所述测量臂的透明介质中耦合待测量的声场,通过所述测量臂的介质中耦合的声场来改变介质的折射率,从而使得通过所述参考臂和所述测量臂的光之间产生相位差,利用频域弱测量得到待测量的声场的声压值。
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