[发明专利]用于点源哈特曼波前探测器的背景噪声特征估计方法有效

专利信息
申请号: 201610363742.X 申请日: 2016-05-26
公开(公告)号: CN106097255B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 魏凌;周睿;王彩霞;黄奎;杨金生;何益;李梅;张雨东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种用于点源哈特曼波前探测器的背景噪声特征估计方法,该方法在估计某一子孔径的背景噪声时,对子孔径内每一个像素,取其领域进行平面拟合,将通过得到的平面的倾斜度计算出该像素为后续计算的权重,再对子孔径内所有的像素按照权重进行加权计算,得到加权的均值和方差,以作为噪声估计的均值和方差。本发明该方法流程简单、稳定,易实现,相对于现有的背景噪声估计方法,能够更准确地估计背景噪声的统计特征,进而提升点源哈特曼波前探测的稳定性和精度。
搜索关键词: 用于 点源哈特曼波前 探测器 背景 噪声 特征 估计 方法
【主权项】:
1.一种用于点源哈特曼波前探测器的背景噪声特征估计方法,其特征在于:该方法的步骤如下:步骤1)从子孔径单元为M×M的哈特曼传感器上获取得到实测的全靶面灰度图像IA,取其中要估计背景噪声特性的子孔径所对应的图像,即分辨率为N×N的子孔径图像I;步骤2)对I中的每一个像素I(i,j),其中i为横坐标,j为纵坐标,取L×L的领域,以横方向为x,纵方向为y,像素灰度值为z,进行平面拟合,得到像素I(i,j)对应的平面方程f(i,j)=0:f(i,j)=ai,jx+bi,jy+z+ci,j=0    (1)其中ai,j,bi,j,ci,j为像素I(i,j)所对应的平面方程的拟合系数;步骤3)计算I(i,j)的权重W(i,j),其中系数α为一事先确定的正数:确定权重W(i,j)所需系数α由子孔径光斑大小来确定,步骤4)计算背景噪声均值u和方差s:
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