[发明专利]一种薄膜结构及其形面控制方法有效
申请号: | 201610367214.1 | 申请日: | 2016-05-27 |
公开(公告)号: | CN106096080B | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 许睿;李东旭;蒋建平;邹杰;刘望 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 陈立新 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜结构及其形面控制方法,薄膜结构包括薄膜阵面、周边张力索、边框、张拉点和调整机构,所述薄膜阵面的四边均设有周边张力索,薄膜阵面周边通过周边张力索提供张力,周边张力索通过多个张拉点固定在边框上的调整结构上,控制调整机构在面外方向的高度进而改变张拉点的高度,能够实现薄膜结构在轨运行过程中薄膜阵面的平面度控制。本发明所提出的形面控制方法是根据薄膜阵面的三维形面数据计算调整机构的调整量,以使得薄膜阵面的形面精度满足设计要求。本发明解决了薄膜结构在轨运行时会因为干扰载荷作用导致其薄膜阵面形面精度降低问题,提高了薄膜结构形面精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 结构 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜结构,包括薄膜阵面、周边张力索、边框和张拉点,其特征在于:薄膜阵面固定在边框内,所述薄膜阵面均位于xoy平面上,所述薄膜阵面的四边均设有周边张力索,薄膜阵面周边通过周边张力索提供张力,周边张力索通过多个张拉点固定在边框上的多个调整结构上,张拉点与调整机构一一对应,所述调整结构竖直安装在边框上,控制调整机构在z方向的高度进而改变张拉点的高度,能够实现薄膜结构在轨运行过程中薄膜阵面的平面度控制,若干个测量标志点以阵列的形式布置在薄膜阵面的表面。
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