[发明专利]一种利用近红外光谱法鉴定印章印迹的方法在审

专利信息
申请号: 201610370963.X 申请日: 2016-05-30
公开(公告)号: CN106092956A 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 张卓勇;陈泽炜;张欣 申请(专利权)人: 首都师范大学;北京远大恒通科技发展有限公司
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李敏
地址: 100048 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明具体涉及一种利用近红外光谱法鉴定印章印迹的方法。本发明利用近红外光谱法对文本或字画的印章印迹进行鉴定,整个鉴定过程不需要对待鉴定样品进行前处理,只需对待鉴定印章采集近红外光谱,不破坏待鉴定样品,具有操作简便、对样品无损、鉴定快速等特点;此外,本发明利用近红外光谱法鉴定印章印迹的方法,结合聚类分析法,通过计算待鉴定印章和已经考证年代的印章之间的距离或相似度,进而推断待鉴定印章的所属时代信息;结果表明,该方法鉴定准确度较高。
搜索关键词: 一种 利用 红外 光谱 鉴定 印章 印迹 方法
【主权项】:
一种利用近红外光谱法鉴定印章印迹的方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将待鉴定样品的每个待鉴定印章至少取3个位置采集近红外光谱,作为待鉴定印章的原始近红外光谱;(2)以空气为参考物质,在相同的条件下,对空气采集近红外光谱,作为参考近红外光谱;(3)将所述待鉴定印章的原始近红外光谱和所述参考近红外光谱经过傅里叶变换计算,分别得到所述待鉴定印章的光强度谱Isam和参考光强度谱Iref,按照如下公式:A=‑log10(Isam/Iref)计算每个待鉴定印章不同位置的吸光度,即得所述待鉴定印章的最终近红外光谱;(4)根据每个待鉴定印章在待鉴定样品上的位置,对每个待鉴定印章设置类别标签;(5)对每个待鉴定印章的最终近红外光谱进行主成分分析,绘制每个待鉴定印章的主成分得分图;(6)在选定的波数范围内,将所有待鉴定印章的近红外光谱划分为校正集样本和测试集样本;(7)用校正集样本建立线性模型和非线性模型,并用预测集样本进行光谱验证;(8)计算每个待鉴定印章的平均光谱,计算出每个待鉴定印章相互之间的欧几里德距离;(9)根据欧几里德距离,计算出系统聚类法中不同聚类准则的Cophenetic相关系数,绘制所述待鉴定印章的聚类树形图。
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