[发明专利]一种宇航元器件PID实施成效评价方法有效

专利信息
申请号: 201610371236.5 申请日: 2016-05-30
公开(公告)号: CN106022636B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 高成;赵冬;黄姣英;熊园园 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G07C3/14
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种宇航元器件PID实施成效评价方法,步骤如下:1、在宇航元器件PID正式运行一段时间后,选取样品进行验证,即选取样品进行验证PID实施成效;2、根据分解的结构单元,确定各个单元要进行的试验项目;3、对试验数据进行管理、总结、整理和分析;4、确定关键工序及关键参数;5、通过定量对比进而对PID实施功效进行评价。本发明采用基于结构分析的宇航元器件定性评价方法、基于SPC、SPSS技术的定量评价方法验证PID的实施成效,分析了两种方法对评价PID实施成效的流程及有效性,为PID实施成效的验证提供方法依据。
搜索关键词: 一种 宇航 元器件 pid 实施 成效 评价 方法
【主权项】:
1.一种宇航元器件PID实施成效评价方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:步骤1:在宇航元器件PID正式运行一段时间后,选取样品进行验证;结合宇航元器件的特殊使用环境、使用条件展开分析,从生产厂家获得样品的包含质量等级、型号、批次的信息,在此基础上对宇航元器件进行结构分解,分解到能考核、评价的最小结构单元;步骤2:根据分解的结构单元,结合宇航元器件固有质量和可靠性的程度,得到各个结构单元的结构要素,确定各个单元要进行的试验项目;综合宇航元器件的所有信息,对样片进行方案设计和安排,对分析试验流程进行优化、整合,生产及试验流程要按照规定的操作规程完成;步骤3:对结构分析得到的数据进行管理、总结,评价是否有不恰当设计、不适合材料用于宇航元器件中;如果存在证明PID的实施过程中存在可靠性隐患的部分问题,需要在鉴定结构的审查与确认后、找到PID实施过程中存在的问题,修改完善后再次进行分析;步骤4:利用故障树,结合厂家的信息,确定关键工序的关键参数;SPC技术主要的作用是对实际采集到得工艺参数数据进行定量的分析,确定什么时候需要对过程加以调整,通过调整保证产品的稳定状态PID实施前对关键工序的关键参数进行数据收集,利用SPSS软件绘制控制图,得到PID实施前关键参数的均值、标准差,利用CPK计算公式得到PID实施前的工序能力指数;步骤5:PID实施过程中对关键工序进行优化、整合,使关键参数趋于稳定;PID实施后采集关键参数,同样利用SPSS软件等绘制控制图,得到PID实施后关键参数的均值、标准差等,利用CPK计算公式得到PID实施后的工序能力指数;将两次得到的数据对比,通过定量对比进而对PID实施功效进行评价。
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