[发明专利]大气环境下超滑纳米晶-非晶碳薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610371967.X 申请日: 2016-05-31
公开(公告)号: CN106011794B 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 张俊彦;曹忠跃;强力;张斌 申请(专利权)人: 中国科学院兰州化学物理研究所
主分类号: C23C16/503 分类号: C23C16/503;C23C16/26;C23C16/27;B82Y40/00
代理公司: 兰州中科华西专利代理有限公司 62002 代理人: 方晓佳
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种大气环境下超滑纳米晶‑非晶碳薄膜的制备方法,该制备方法包括以下步骤:将预清洁后的硅片放入丙酮、乙醇中超声清洗,然后转移至等离子体增强化学气相沉积设备的真空腔下部基底盘上,基底盘与负偏压电源相连;抽真空直到小于1.0×10‑3帕;通入氩气,在直流偏压500~800 V条件下进行等离子体清洗,用以除去表面残留的杂质和污染物;通入甲烷和氮气,在直流偏压780~820 V条件下镀膜20~40分钟;通入甲烷和氢气,在直流偏压为780~820V条件下镀膜90~120分钟。本发明所获得的薄膜呈现了纳米晶‑非晶特征,具有较高的硬度和弹性,以及优异的摩擦学性能(摩擦系数可持续维持在0.005左右,磨损率达到了~10‑17m3/N/m级别)。
搜索关键词: 大气环境 下超滑 纳米 非晶碳 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.大气环境下超滑纳米晶‑非晶碳薄膜的制备方法,其特征在于该制备方法包括以下步骤:1)将预清洁后的硅片放入丙酮、乙醇中超声清洗,然后转移至等离子体增强化学气相沉积设备的真空腔下部基底盘上,基底盘与负偏压电源相连;2)抽真空直到小于1.0×10‑3帕;3)通入氩气,在直流偏压500~800 V条件下进行等离子体清洗;4)通入甲烷和氮气,在直流偏压780~820 V条件下镀膜20~40分钟;通入甲烷和氢气,在直流偏压为780~820V条件下镀膜90~120分钟;所述甲烷和氮气的流量比为0.8:1.0~1.2:1.0;所述甲烷和氢气的流量比为1:1.8~1:2.2。
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