[发明专利]确定防滑刹车控制装置低温故障分布的方法

摘要

一种确定防滑刹车控制装置低温故障分布的方法，随机抽取防滑刹车控制装置中的元器件进行低温故障测试，根据测试数据进行计算，根据计算结果确定元器件的低温故障分布，作为工程中选择故障分布公式的依据，消除现有技术带来的误差和资源消耗。本发明确定采用威布尔分布评估防滑刹车控制装置的低温故障，证明防滑刹车控制装置的故障是耗损故障，纠正了现有技术中将耗损故障作为偶然故障处理的错误，以及在障原因、故障机理方面产生误差。

主权项

1.一种确定防滑刹车控制装置低温故障分布的方法，其特征在于，具体过程是：步骤1，确定电子元器件的低温故障分布测试方案：第一步，确定元器件低温抽样测试的种类，以半导体分立元器件作为低温测试样件；在半导体分立元器件中，抽取三极管进行低温故障分布测试；第二步，随机抽取同型号多个三极管作为试验样件；各三极管的使用温度范围是：‑55℃～125℃；第三步，进行三极管低温故障分布测试，首先确定三极管低温故障原因；其次，根据低温故障原因确定环境试验箱的温度为‑55℃；将环境试验箱的温度降到‑55℃并恒温；同时将各三极管放进低温试验箱，通电工作条件下进行测试；测试条件为：施加共基极集电极‑基极直流电压‑6V，进行到各三极管全部发生低温故障时测试结束；第四步，确定累积失效概率计算公式：在样本数小于50个的条件下，通过近似中位秩公式计算累积失效概率；公式(15)中：F_n(t_i)是试验中元器件的累积失效概率；t_i表示第i个试验中元器件的低温故障时间，i＝1,2,3…n；0.32和0.36均为公式中的常数；n是试验元器件的总数，且n＝4；第五步，对威布尔分布公式进行线性化处理：当该三极管的低温故障分布测试数据回归分析相对于威布尔分布线性相关系数r大于等于0.9时，认为服从威布尔分布；当线性相关系数r小于0.9时，该三极管的低温故障测试数据与威布尔分布拟合不好，对该三极管的低温故障测试数据采用正态分布重新计算；列出威布尔分布数学式：式中：t为尺度参数；m为威布尔分布的形状参数，m值的大小表示故障分布的分散程度；t₀为参数，具有缩小和放大分布函数坐标尺度的作用；F_n(t)是威布尔分布的累积失效函数；对式(7)等号两边取两次以e为底的自然对数线性化处理，得到：列线性方程：y＝bx+a                                        (9)y为bx+a的函数，a为x＝0时方程(9)在y轴上的截距，b为系数；依据(9)式对(8)式进行变量转换：至此，完成了威布尔分布函数的线性化处理，具备在双对数坐标系中对三极管的低温测试数据进行计算的条件；第六步，确定截距a、系数b和相关系数r：按照双对数坐标系的原理，在双对数坐标系中相应列出测试数据；采用最小二乘法确定截距a、系数b，通过公式(11)确定系数b：工程中，的值等于b的值；为威布尔分布的形状参数m的估计值；方程(9)在y轴上的截距a为：威布尔分布尺度参数t估计值的计算公式为：式中为t的估计值，用表示针对尺度参数t进行计算后的估计值；通过公式(14)确定相关系数r：在威布尔分布双对数坐标系中计算三极管的低温故障数据，若服从威布尔分布，计算结束；若不服从威布尔分布，则重新在正态分布的双对数坐标系中计算三极管的低温故障数据；若不服从正态分布，则该三极管的研制质量存在隐患，应在进行质量改进后重新进行低温故障分布测试和计算；步骤2，对三极管进行低温故障分布测试：按照步骤1确定的测试方案，进行各三极管的低温故障分布测试，测试进行到各三极管全部失效时结束；得到各三极管的低温故障分布测试数据；步骤3，对各三极管的低温故障分布测试数据进行计算：根据步骤2测试得到的各三极管的低温故障数据，对各测试数据进行计算，确定低温测试数据的故障分布；根据各三极管的低温故障分布测试数据列出最小二乘法计算表；步骤4，确定三极管的低温故障分布：根据对三极管低温故障测试数据的威布尔分布回归计算结果，若三极管的低温故障服从威布尔分布，计算结束；若经计算不服从威布尔分布，则应重新按照正态分布计算，若服从正态分布，计算结束；若经计算不服从正态分布，则应对该三极管进行质量改进，改进后重新进行计算，直至确定三极管的低温测试数据服从的概率分布，计算结束。