[发明专利]混合型有源-场间隙延伸漏极MOS晶体管有效
申请号: | 201610377205.0 | 申请日: | 2011-10-26 |
公开(公告)号: | CN106057797B | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | S·P·彭哈卡;J·林 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L29/78;H01L21/336;H01L21/782 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民;徐东升 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种集成电路(100)包括具有并行交替的有源间隙漂移区和场间隙漂移区的延伸漏极MOS晶体管(102)。延伸漏极MOS晶体管包括在场间隙漂移区上具有场板的栅极。延伸漏极MOS晶体管可以以对称嵌套配置形成。用于形成包含延伸漏极MOS晶体管的集成电路的工艺提供并行交替的有源间隙漂移区和场间隙漂移区,其中栅极在场间隙漂移区上具有场板。 | ||
搜索关键词: | 混合 有源 间隙 延伸 mos 晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路,其包括:半导体衬底;以及延伸漏极金属氧化物半导体晶体管即EDMOS晶体管,其包括:位于所述半导体衬底中的沟道区;位于所述半导体衬底中的延伸漏极,所述延伸漏极包括漂移区,所述漂移区具有场间隙漂移区和与所述场间隙漂移区交替的有源间隙区,所述漂移区紧靠所述沟道区;场氧化物结构,其被定位成邻近所述场间隙漂移区且与所述沟道区相对;以及位于所述延伸漏极上的漏极接触扩散区,所述漏极接触扩散区比所述延伸漏极具有更高的掺杂浓度,并且紧靠所述有源间隙区并与所述场氧化物结构交插。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德克萨斯仪器股份有限公司,未经德克萨斯仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610377205.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的