[发明专利]晶体管搬运检测的结构

摘要

本发明为一种晶体管搬运检测的结构，包含中心转盘、上盖盘部、上通气道、下盖盘部以及下通气道，其中心转盘的周缘设有多个承载槽，其中各承载槽的槽面由中心转盘的一侧向中心转盘的另一侧之间形成阶梯状，在上盖盘部与中心转盘之间形成上通气道，及在下盖盘部与中心转盘的另一侧之间形成下通气道，并藉由上通气道真空吸气及下通气道吹气，让有接脚的晶体管或无接脚的晶体管保持在悬空的状态，以减少搬运所产生的摩擦。

主权项

1.一种晶体管搬运检测的结构，其特征在于，包含：一中心转盘，该中心转盘的周缘设有复数个承载槽，其中各该承载槽的槽面由该中心转盘的一侧向该中心转盘的另一侧之间形成阶梯状；一上盖盘部，该上盖盘部设于该中心转盘的一上侧一距离处；一上通气道，该上通气道设于该上盖盘部与该中心转盘的一侧之间，且该上通气道保持真空吸气状态用以对各该承载槽内的晶体管一上侧真空吸气；一下盖盘部，该下盖盘部设于该中心转盘的一下侧一距离处；以及一下通气道，该下通气道设于该下盖盘部与该中心转盘的另一侧之间，且该下通气道保持吹气状态用以对各该承载槽内的晶体管一下侧吹气；所述晶体管在各该承载槽内保持悬空。