[发明专利]一种多通道数字相关器性能测试方法

摘要

一种多通道数字相关器性能测试方法，首先产生两路非相关噪声信号，并分别进行功分处理，将功分得到的两路功分信号进行移相得到两路噪声信号，其余两路进行衰减、合路后得到第三路噪声信号，调节衰减量、移相值直至三路噪声信号满足要求，然后将三路噪声信号进行功分处理得到多路待测试源通道并送至待测试数字相关器，得到实测复相关值，同时计算得到预期复相关值，最后根据实测复相关值、预期复相关值得到待测试数字相关器精度并完成当待测试数字相关器精度测试。本发明方法通过使用切换控制矩阵器实现了待测试数字相关器多路通道同时测试，解决了现有技术中人为操作过多及长时间性能漂移引入误差的问题，具有较好的适用价值。

主权项

1.一种多通道数字相关器性能测试方法，其特征在于包括如下步骤：(1)产生两路非相关的噪声信号，并分别记为第一噪声信号、第二噪声信号，然后将第一噪声信号进行功分处理后得到功分a信号、功分b信号，将第二噪声信号进行功分处理得到功分c信号和功分d信号；(2)将功分a信号送至第一移相器进行移相处理后得到待测噪声A信号，将功分c信号送至第二移相器进行移相处理后得到待测噪声C信号，其中，第一移相器的移相值为θ1，第二移相器的移相值为θ2，θ1≠θ2，θ1、θ2>0；(3)将功分b信号送至第一可调衰减器进行衰减处理得到P1信号，将功分d信号送至第二可调衰减器进行衰减处理后得到P2信号，将P1和P2信号进行合路处理后得到待测噪声B信号，其中，第一可调衰减器的衰减量与第二可调衰减器的衰减量均大于0且不相同，P1信号的功率为P1，P2信号的功率为P2；(4)调节第一可调衰减器的衰减量与第二可调衰减器的衰减量直至待测噪声A、待测噪声B、待测噪声C的信号功率均为P，其中，P＝P1+P2；(5)将待测噪声A信号、待测噪声B信号、待测噪声C信号分别进行功分处理，得到多路待测试源通道并分别送至待测试数字相关器，得到实测的待测试数字相关器各通道间的复相关值；所述的待测试源通道为待测噪声A信号、待测噪声B信号或者待测噪声C信号功分处理得到的测试信号；(6)计算预期的待测试数字相关器各通道间的复相关值为：如果两个待测试源通道分别为待测噪声A信号功分信号、待测噪声B信号功分信号，则预期的复相关值幅度值|ρAB|为预期的复相关值相位为θ1；如果两个待测试源通道分别为待测噪声B信号功分信号、待测噪声C信号功分信号，则预期的复相关值幅度值|ρBC|为预期的复相关值相位为θ2；如果两个待测试源通道分别为待测噪声A信号功分信号、待测噪声C信号功分信号，则预期的复相关值幅度值|ρAC|＝0，预期的复相关值相位为0；遍历待测试数字相关器各通道，得到预期的待测试数字相关器各通道间的复相关值；(7)根据实测的待测试数字相关器各通道间的复相关值、预期的待测试数字相关器各通道间的复相关值计算得到待测试数字相关器各通道间的精度；(8)当待测试数字相关器俩通道精度的相位不小于1，俩通道精度的幅度值不大于0.99时，待测试数字相关器的当前俩通道可用，否则待测试数字相关器的当前俩通道不可用。