[发明专利]真空环境下的光谱反射率原位测试系统

摘要

本发明公开了一种用于真空环境下的光谱反射率原位测试系统，包括辐照腔和测量腔，两个卧式腔体水平分布，测量腔与辐照腔之间通过插板阀分隔，分光光度计系统通过真空密封的紫外、近红外混合石英光纤将样品光束和参考光束引入真空测量腔，并通过真空穿墙线缆将真空测量腔内的测试信号回传，进行光谱反射率的数据的计算和处理；辐照腔上方设置紫外辐射源，送样机构推送测试样品组从真空低温辐照腔的辐照试验位置至真空测量腔的测试位置的往返运动以及样品分离位置的运行；运动控制系统用于试验样品组光谱反射率测试、移动、分离的集中控制。本发明的测量不确定度为1％，测量重复性为0.5％；样品分离、送样和取样由计算机一体化控制，自动化程度高。

主权项

1.用于真空环境下的光谱反射率原位测试系统，包括真空低温辐照腔和真空测量腔，两个卧式腔体水平分布，真空测量腔与真空低温辐照腔之间通过插板阀分隔，真空低温辐照腔与真空测量腔分别有真空抽气系统，在电动插板阀关闭的情况下分别抽气，分光光度计系统通过真空密封的紫外、近红外混合石英光纤将样品光束和参考光束引入真空测量腔，并通过真空穿墙线缆将真空测量腔内的测试信号回传，进行光谱反射率的数据的计算和处理；真空低温辐照腔上方设置紫外辐射源，送样机构推送测试样品组从真空低温辐照腔的辐照试验位置至真空测量腔的测试位置的往返运动以及样品分离位置的运行；运动控制系统用于试验样品组光谱反射率测试、移动、分离的集中控制，真空低温辐照腔的顶端中心布设有光学窗口，用于将近紫外辐照透射到处于辐照试验面上的测试样品上，并在光学窗口两侧布设与光学窗口轴线成30°夹角的远紫外法兰接口，用于将远紫外辐照透射到处于辐照试验面上的测试样品上。