[发明专利]一种基于UPLC指纹图谱模式识别鉴别何首乌的方法及其应用

摘要

本发明公开了一种基于UPLC指纹图谱模式鉴别何首乌的方法，包括：对待测何首乌样本进行取样，进行UPLC分析，得到UPLC指纹图谱；在所述指纹图谱中选取何首乌及伪品的多个共有色谱峰的并集作为研究指标，通过偏最小二乘法识别方法获取临界值；将所述临界值与预测临界值相比较，当所述临界值当大于所述预测临界值时，所述样本为真品，当所述临界值当小于所述预测临界值时，所述样本为伪品。本发明公开了一种基于UPLC指纹图谱模式鉴别何首乌的应用。本发明具有在短时间内就可以分析处理大量的样本，快速鉴别出伪品及掺伪品的特点。

主权项

1.一种基于UPLC指纹图谱模式识别鉴别何首乌的方法，其特征在于，包括：对待测何首乌样本进行取样，进行UPLC分析，得到UPLC指纹图谱；在所述指纹图谱中选取所述待测何首乌样本的共有色谱峰的并集作为研究指标，通过偏最小二乘法识别方法获取临界值；将所述临界值与预测临界值相比较，当所述临界值当大于所述预测临界值时，所述样本为真品，当所述临界值当小于所述预测临界值时，所述样本为伪品；其中，在所述偏最小二乘法识别方法中，将所述色谱峰的出峰面积及保留时间形成输入矩阵，分类结果的虚设变量作为输出矩阵，进而得到所述临界值；还包括：预先选取何首乌及伪品样本，分别得到所述何首乌及所述伪品的UPLC指纹图谱，将所述何首乌及所述伪品的指纹图谱中的多个共有色谱峰的并集作为研究指标，将出峰面积及保留时间形成输入矩阵，分类结果的虚设变量作为输出矩阵，进而得到所述预测临界值；所述待测何首乌样本为含有5％～95％的白何首乌伪品的何首乌样本。