[发明专利]一种光纤干涉法测折射率的装置有效

专利信息
申请号: 201610383317.7 申请日: 2016-06-02
公开(公告)号: CN105866071B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 陈建冬;高文智;崔洪亮;李亚 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 长春市四环专利事务所(普通合伙) 22103 代理人: 张建成
地址: 130061 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种光纤干涉测量折射率的装置,包括激光器光源,环形器,样品池,光电探测器,解调模块,准直器。样品池的一端装有准直仪,准直器中有10%反射90%透射式透镜,样品池的后端为法拉第旋镜。激光器发出的光经过准直器后变成平行光入射进样品池,并且在后端被法拉第旋镜反射回来。法拉第旋镜避免了样品池内入射光和反射光之间的干涉。准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光两路光会发生干涉现象。本发明测量精度高,结构简单易于实现小型化,可以对气体、液体多种样本进行测量,测量折射率的范围广,可以实现数字化自动测量。
搜索关键词: 一种 光纤 干涉 折射率 装置
【主权项】:
1.一种光纤干涉法测折射率的装置,包括激光器(1)、环形器(2)、光纤准直器(3)、进样口(4)、法拉第旋镜(5)、出样口(6)、样品池(7)、光电探测器(8)和解调模块(9),激光器输出的激光经过环形器入射进样品池,样品池的前端有准直器,准直器中有反射/透射式透镜,样品池的后端有法拉第旋镜,准直器的反射光和法拉第旋镜的反射光会发生干涉现象,环形器的另一端接有光电探测器,可以将光信号转换为电信号再传到解调模块,进行解调后得到相应的折射率数值。
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