[发明专利]基于存储系数和渗流系数的低渗储层甜点评价方法

摘要

本发明公开了一种基于存储系数和渗流系数的低渗储层甜点评价方法，包括：根据岩心实测数据与测井数据计算得到岩心孔隙度与渗透率的测井解释模型，然后利用孔隙度、渗透率、地层厚度以及压缩系数计算得到存储系数与渗流系数的双累积百分数，再利用比值法，计算每个测井点的斜率δ值，作出δ曲线，根据预先确立的不同的临界斜率δo值，将δ曲线上对应的测井点划分不同等级的“甜点”。本发明提出的“δ曲线”，是孔渗曲线的综合响应，提出的“δo值”也为动态可变评价标准，简单而非常高效地一次性多标准的实现了低渗致密砂岩储层中单井垂向上的优势“甜点”的划分与定量评价。

主权项

一种基于存储系数和渗流系数的低渗储层甜点评价方法，其特征在于，包括：S1、根据采集取样的岩心实测数据和测井数据计算得到岩心孔隙度和渗透率的测井解释模型；S2、根据所述的岩心孔隙度和渗透率的测井解释模型以及地层厚度、压缩系数计算得出每一个测井点的存储系数和渗流系数；S3、根据每一个测井点的存储系数和渗流系数计算得出每一个测井点的存储系数百分数和渗流系数百分数，进而得到每一个测井点的累积存储系数百分数的百分比和累积渗流系数百分数的百分比；S4、利用比值法，计算每一个测井点的斜率δ值，作出δ曲线；S5、根据预先确定的临界斜率δ₀值，将δ曲线上对应的测井点划分为不同等级的“甜点”。