[发明专利]一种SAR聚束模式下平面相控阵天线的故障检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610383453.6 申请日: 2016-06-01
公开(公告)号: CN106054148B 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 孙吉利;禹卫东;宋红军 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G01R29/10
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王花丽;张颖玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例公开了一种SAR聚束模式下平面相控阵天线的故障检测方法及装置,其中所述方法包括:所述SAR在聚束模式下进行成像时,判断所述平面相控阵天线中的第一天线模块集合中是否有天线模块发生故障,其中,所述第一天线模块集合包括n个天线模块,n为大于1的自然数;如果所述第一天线模块集合中有天线模块发生故障,确定发生故障的天线模块;从第二天线模块集合中选取连续的n个天线模块作为第三天线模块集合,其中,第二天线模块集合为从平面相控阵天线均匀分成的m个天线模块中除去发生故障的天线模块得到的天线模块集合,其中,m为自然数,m大于等于2n;通过天线重组使所述第三天线模块集合进行正常工作。
搜索关键词: 一种 sar 模式 平面 相控阵 天线 故障 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种合成孔径雷达SAR聚束模式下平面相控阵天线的故障检测方法,其特征在于,所述方法包括:所述SAR在聚束模式下进行成像时,判断所述平面相控阵天线中的第一天线模块集合中是否有天线模块发生故障,其中,所述第一天线模块集合包括n个天线模块,n为大于1的自然数;如果所述第一天线模块集合中有天线模块发生故障,确定发生故障的天线模块的位置信息;从第二天线模块集合中选取连续的n个天线模块作为第三天线模块集合,其中,第二天线模块集合为从平面相控阵天线沿方位向均匀分成的m个天线模块中除去发生故障的天线模块得到的天线模块集合,其中,m为自然数,m大于等于2n;通过天线重组使所述第三天线模块集合进行正常工作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610383453.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top