[发明专利]一种基于像素分类和局部曲面拟合的磁共振相位解缠绕方法

摘要

本发明提出了一种基于像素分类和局部曲面拟合的磁共振相位解缠绕方法。先计算幅值为1，相位为真实相位的复向量相位局部偏差图，再计算缠绕相位的相位局部偏差图；然后把感兴趣区域内像素分成不连通块和残余像素两类；再识别出任一不连通块内是否含有缠绕，若存在，则对该不连通块进行块内相位解缠绕：先把该不连通块分成不连通子块和残余像素两类，优先进行不连通子块之间的相位解缠绕，然后对残余像素相位解缠绕；最后进行掩膜内相位解缠绕：合并感兴趣内不连通块，再利用解缠绕后的不连通块来对感兴趣区域内的残余像素解缠绕。本发明能更加准确地把感兴趣区内真实相位变化较快的像素和缠绕相位变化较快的像素分别提取出来，从而可以更加可靠地实现相位的解缠绕。

主权项

1.一种基于像素分类和局部曲面拟合的磁共振相位解缠绕方法，其特征在于，包括如下步骤：①计算掩膜和幅值为1，相位为真实相位的复向量，并计算该向量的相位局部偏差图LD‑TR；②利用缠绕相位计算相位局部偏差图LD‑TW；③根据步骤①计算得到的LD‑TR，利用阈值T₁把感兴趣区内像素分成真实相位平滑的不连通块和真实相位快速变化的残余像素两类；④利用阈值T₂作用于由步骤②计算得到LD‑TW来识别任一不连通块内是否含有缠绕，若存在，则把该不连通块分成缠绕相位平滑的不连通子块和缠绕相位快速变化的残余像素两类；⑤不连通块内相位解缠绕：利用局部多项式曲面拟合方法优先进行不连通子块之间的相位解缠绕，然后用解缠绕后的不连通子块来对残余像素相位解缠绕；⑥掩膜内相位解缠绕：当所有存在相位缠绕的不连通块都完成了块内解缠绕，再利用局部多项式曲面拟合方法优先进行不连通块之间的解缠绕，然后再利用解缠绕后的不连通块来对剩余残余像素解缠绕。