[发明专利]一种掉电保护电路的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201610392158.7 | 申请日： | 2016-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN107462822A | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 李彤欣;张博;胡雪原 | 申请（专利权）人： | 国神光电科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 | 代理人： | 庞红芳 |
| 地址： | 200433 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种掉电保护电路的测试方法及系统，所述掉电保护电路的测试方法包括充电测试对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。其中，可以对所述掉电保护电路进行循环的充电测试和放电测试。本发明可以实现对掉电保护电路的全自动化充电测试和放电测试，有效保证掉电保护电路的可靠性，而且发明结构简单，控制灵活，使用简单，方便产线人员进行测试，具有广泛的适用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 掉电 保护 电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述掉电保护电路的测试方法包括：充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。
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