[发明专利]一种探测激光二维方位及波长的方法

摘要

一种探测激光二维方位及波长的装置及方法，包括依次设置的激光器、光栅、显示屏和摄像头，其特征在于：所述光栅具有两组相互垂直的光栅条纹，两组光栅条纹相邻设置，并且两组光栅条纹的周期相同，该光栅为金属光栅，所述显示屏为透明显示屏。该装置及方法可以准确简单地测量入射光束的位置和波长，且测量稳定性高，可靠性好。通过摄像头实时拍照测量并且计算得出。可以快速地得出激光的二维方位和波长。可以用于报警技术，为报警技术的发展提供有效的参考。

主权项

1.一种探测激光二维方位及波长的方法，包括依次设置的激光器(1)、光栅(2)、显示屏(3)和摄像头(4)，所述光栅(2)具有两组相互垂直的光栅条纹，两组光栅条纹相邻设置，并且两组光栅条纹的周期相同，该光栅(2)为金属光栅，所述显示屏(3)为透明显示屏；包括以下步骤：1)激光器(1)发出与光栅(2)垂直入射的标准光束(I)，并且在显示屏(3)上成像，并且用摄像头(4)拍摄后记录该光束的0级衍射条纹的成像点(O)，并设该成像点(O)为原点；2)用激光器(1)发出待测光束(I’)，经过光栅(2)衍射后在显示屏(3)上成像，用摄像头(4)拍摄记录该衍射光斑的0级衍射条纹的位置(P’)和1级衍射条纹的位置(P”)，并且计算该待测光束(I’)的0级衍射条纹和1级衍射条纹与标准光束(I)的成像点之间的投影距离；利用公式计算出待测光束(I’)的α，β和λ，其中α为待测光束(I’)与水平的X轴之间的夹角，β为待测光束与竖直的Y轴之间的夹角，λ为待测光束的波长；其中，待测光束(I’)的0级衍射条纹在Y轴上的投影与原点(O)之间的距离为M，待测光束(I’)的0级衍射条纹在X轴上的投影与原点(O)之间的距离为D，待测光束(I’)的1级衍射条纹在Y轴上的投影与原点(O)之间的距离为R，L为光栅(2)与显示屏(3)之间的距离，d为光栅(2)的周期。