[发明专利]一种测试仪

摘要

本发明涉及一种测试仪，包括具有第一火线端和第二火线端的交流电源电路、用于与被测设备的火线输出端相连的相位产生电路、调节电路和时间检测电路；第一火线端和第二火线端用于与被测设备的火线输入端相连，所述负载回路的零线端用于与被测设备的零线端相连；相位产生电路包括控制按钮电路，控制按钮电路用于控制相位产生电路分别生成产生符合国家标准的测试电流。本发明测试范围较广，性能较为稳定可靠。

主权项

一种测试仪，其特征在于包括：交流电源电路（1）、直流供电电路（7）、相位产生电路（2）、交流漏电调节电路（3）、相位显示电路（6）、指示灯电路（5）和时间检测电路（4）；交流电源电路（1）具有用于构成负载回路的第一火线端和用于构成模拟漏电回路的第二火线端，第一火线端和第二火线端用于与被测设备（9）的火线输入端相连，所述负载回路的零线端用于与被测设备（9）的零线端相连；所述被测设备是A型漏电断路器；相位产生电路（2），用于与被测设备（9）的火线输出端（L2）相连；相位产生电路（2）包括控制按钮电路，控制按钮电路用于控制相位产生电路（2）在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0º的半波整流电流、电流滞后电压90º的半波整流电流、电流滞后电压135º的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0º的半波整流电流；所述相位产生电路（2）包括：电流滞后电压0º的第一半波整流电路、电流滞后电压90º的第二半波整流电路、电流滞后电压135º的第三半波整流电路、6mA直流生成电路、以及可控硅电流控制电路；所述可控硅电流控制电路根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0º的半波整流电流、电流滞后电压90º的半波整流电流、电流滞后电压135º的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0º的半波整流电流；所述电流滞后电压135º的第三半波整流电路包括：正弦波整形电路、充电电路、与门、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电位器WR1和运算放大器IC1B；正弦波整形电路由变压器T2、二极管D5、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和运算放大器IC1A构成；充电电路由电阻R8和电容C5构成，电阻R8和电容C5与运算放大器IC1A的输出端相连；与门由二极管D6和D7构成；电阻R9和电阻R10用来设定相对于电流滞后电压135º的整定电压；电阻R11和电位器WR1用来调节运算放大器IC1B的反向端的相对于电流滞后电压135º的比较电压；运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135º的控制信号；交流漏电调节电路（3），用于控制所述模拟漏电回路的电流大小；时间检测电路（4），用于测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间，即动作时间；所述时间检测电路（4）包括：单片机IC6、与单片机IC6的漏电检测端相连的用于检测所述模拟漏电回路是否导通的漏电信号检测电路、以及与单片机IC6的时间信息输出端相连的用于显示时间的数码管；单片机IC6根据漏电信号检测电路输出的漏电信号测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间并通过所述数码管显示该时间；指示灯电路（5）由变压器T4、整流二极管D42、整流二极管D43、整流二极管D44、整流二极管D45、三端稳压器BG27和RC滤波电路组成。