[发明专利]一种老化测试中内存测试方法在审
| 申请号： | 201610398477.9 | 申请日： | 2016-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN106055444A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 王佩;孙连震 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 刘继枝 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种老化测试中内存测试方法，该测试方法步骤如下：1）在操作系统内进行模块老化测试；2）打包内存DOS测试模块；3）在操作系统内运行模块老化测试程序，在测试完成后将内存DOS测试模块设于BIOS只读存储器，使测试机重启；4）测试机BIOS完成自检后，运行内存DOS测试模块，进行内存测试；5）测试结束后重启引导进入操作系统，在操作系统内抓取内存模块测试状态；6）内存测试通过，则继续进行下一模块老化测试，内存测试失败则报错，停止测试。本发明的内存老化测试在DOS平台进行，内存利用率高，测试效果显著；实现Windows/Linux操作系统和DOS的自动切换，实现自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 内存 方法 | ||
【主权项】：
一种老化测试中内存测试方法，其特征在于，该测试方法步骤如下：1）在操作系统内进行模块老化测试；2）打包内存DOS测试模块；3）在操作系统内运行模块老化测试程序，在测试完成后将内存DOS测试模块设于BIOS只读存储器，使测试机重启；4）测试机BIOS完成自检后，运行内存DOS测试模块，进行内存测试；5）测试结束后重启引导进入操作系统，在操作系统内抓取内存模块测试状态；6）内存测试通过，则继续进行下一模块老化测试，内存测试失败则报错，停止测试。
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