[发明专利]半色调掩模板及TFT基板的制作方法有效
申请号: | 201610402645.7 | 申请日: | 2016-06-07 |
公开(公告)号: | CN105892221B | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
发明(设计)人: | 莫超德 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种半色调掩模板及TFT基板的制作方法。本发明的半色调掩模板,包括用于分别与薄膜晶体管的源、漏极位置对应的第一、第二不透光区域、用于与所述薄膜晶体管的有源层的U形沟道区位置对应的U形的半透光区域、位于该U形的半透光区域开口处并向该开口外延伸的两半透光延伸区域、以及剩余的全透光区域;该半透光延伸区域可以避免在构图形成源漏极、及沟道区时产生边缘效应而造成过显及过刻,从而消除现有技术中良品率不足、产率过低的问题。本发明提供的TFT基板的制作方法,采用上述半色调掩模板,可以避免在构图形成沟道区时产生边缘效应而造成过显及过刻,从而消除现有技术中良品率不足、产率过低的问题。 | ||
搜索关键词: | 色调 模板 tft 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半色调掩模板,其特征在于,包括用于分别与薄膜晶体管的源、漏极位置对应的第一、第二不透光区域(910、920)、用于与所述薄膜晶体管的有源层的U形沟道区位置对应的U形的半透光区域(930)、位于该U形的半透光区域(930)开口处并向该开口外延伸的两半透光延伸区域(940)、以及剩余的全透光区域(950);所述第一不透光区域(910)包括一条形部(911),所述第二不透光区域(920)包括一U形部(921),所述第一不透光区域(910)的条形部(911)的一端伸入所述第二不透光区域(920)的U形部(921)的开口内并与其不相接,从而形成一U形间隙;所述半透光区域(930)位于并填满所述第一不透光区域(910)与第二不透光区域(920)之间的U形间隙,所述半透光区域(930)包括一竖条部(931)、及分别连接于竖条部(931)两端的两横条部(932),从而形成U形结构;所述半透光延伸区域(940)垂直于所述第一不透光区域(910)的条形部(911)并向所述半透光区域(930)的U形结构外延伸,与所述半透光区域(930)相接并挡住所述第一不透光区域(910)与第二不透光区域(920)之间的U形间隙的开口;所述半透光延伸区域(940)的长度(L)大于所述半透光区域(930)的横条部(932)的宽度(D);所述两半透光延伸区域(940)通过在所述U形的半透光区域(930)开口处设置一层半透膜得到,所述半透膜为氧化铬薄膜、或钼硅薄膜。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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