[发明专利]基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法

摘要

一种基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法，包括如下步骤：准备电缆绝缘内、中、外层切片试样；在相同条件下进行50Hz及0.1H电压下的试样介损测量；获得每个试样在0.1Hz和50Hz下介损的比值，在此基础上，计算得绝缘各层以及绝缘整体的介损比值；根据各层介损比值的大小及变化规律，以及绝缘整体介损比值的大小，评估交流或直流电缆XLPE绝缘的老化状态；按照本发明方法可以消除不同位置老化不均匀的影响，有利于反映绝缘的整体状态，对交、直流电缆XLPE绝缘的老化程度进行准确评估；测试所需的试样量小，对测试仪器的电压及容量要求低；以不同频率下介损测量值的比值作为特征参数，减小了测试仪器系统误差和外界环境的影响；无需与历史数据对比，工程应用方便。

主权项

1.一种基于不同频率介损比值的XLPE绝缘老化状态评估方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：准备试样，从XLPE成品电缆上截取一定长度的电缆样段，取出导体线芯并剥除绝缘屏蔽以外的所有部分后，沿圆周方向进行环向切削，获得一定厚度的薄膜带状XLPE绝缘片，沿径向将绝缘均分为三部分，由内到外分别称为内层、中层和外层，分别在对应于绝缘内、中、外层位置均切取3至5片试样，清洁、压平，并做预处理后备用；步骤2：50Hz电压下的试样介损测量，在确定的环境条件及试验条件下，逐一测量各试样在50Hz电压下的介损值，记为tanδ(50)；步骤3：0.1Hz电压下的试样介损测量，在和步骤2相同的环境条件及试验条件下，仅将电压频率调整为0.1Hz，逐一测量各试样在0.1Hz电压下的介损值，记为tanδ(0.1)；步骤4：数据处理，对每个试样，求取其0.1Hz和50Hz电压下介损的比值，记为λ，λ＝tanδ(0.1)/tanδ(50)；对各层的λ测量值求取平均值，作为该层的最终结果，记为λ内、λ中、λ外；再对内、中、外层测量值λ内、λ中、λ外求取平均值，作为绝缘整体特征参数的最终结果，记为λ整；步骤5：绝缘老化状态评估，根据所得特征参数λ整的大小，判断所测XLPE电缆绝缘的老化状态，λ整越大，绝缘的老化程度越严重。