[发明专利]一种传感器工作区域自动测试系统有效
| 申请号： | 201610406074.4 | 申请日： | 2016-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN106054179B | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 徐玉河;杨雪 | 申请（专利权）人： | 比业电子（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01S13/88 | 分类号： | G01S13/88;G01S7/02 |
| 代理公司： | 北京立成智业专利代理事务所(普通合伙) 11310 | 代理人： | 张厚山 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 为解决现有传感器工作区域测试技术的不足，本发明提供了一种传感器工作区域自动测试系统，包括：测试体运动装置、传感器运动装置和控制装置。其中，测试体运动装置用于安装及控制测试体，该装置在控制装置的指令下控制测试体以给定的运动姿态在待测区域内运动；传感器运动装置用于安装及控制待测传感器，该装置在控制装置的指令下控制待测传感器以给定的探测条件探测待测区域内的测试体，并将反馈数据发送至控制装置；控制装置根据用户发出的指令控制测试体的运动姿态及待测传感器的探测条件，并将接收到的待测传感器发出的反馈数据处理为用户预先设定的表达形式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 传感器 工作 区域 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种传感器工作区域自动测试系统，其特征在于，包括测试体运动装置、传感器运动装置和控制装置；其中，测试体运动装置用于安装及控制测试体，该装置与控制装置连接并在控制装置的指令下控制测试体以给定的运动姿态在待测区域内运动；传感器运动装置用于安装及控制待测传感器，该装置与控制装置连接并在控制装置的指令下控制待测传感器以给定的探测条件探测待测区域内的测试体，并将反馈数据发送至控制装置；控制装置根据用户发出的指令控制测试体的运动姿态及待测传感器的探测条件，并将接收到的待测传感器发出的反馈数据经过分析处理后以用户预先设定的形式输出；所述测试体运动装置包括水平轨道、驱动装置A和测试体；其中测试体可在驱动装置A的带动下沿水平轨道运动；所述传感器运动装置包括垂直轨道、驱动装置B和传感器底座；其中，传感器底座用于固定安装待测传感器并通过传感器接头连接待测传感器；传感器底座可在驱动装置B的带动下沿垂直轨道运动。
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