[发明专利]一种用于电声器件阻抗测试的校准方法

摘要

本发明公开了一种用于电声器件阻抗测试的校准方法，所述方法用于已知负载电压，使用取样电阻测量回路电流求负载阻抗的测量设备中；根据阻抗测试原理，分析误差产生的来源及误差对测试结果的影响，得到阻抗校准公式；测试已知阻值的标准电阻，将标准电阻的阻值及测量阻值代入校准公式中，计算得到测量系统中输出回路的取样电阻、接触电阻等等效测试参数。本发明提供的电声器件阻抗测试的校准方法，能够快速、准确的校准，操作简便，可降低或消除引线电阻、接触电阻及附加连接线电阻等带来的影响，使得电声器件的阻抗被准确测量。

主权项

1.一种用于电声器件阻抗测试的校准方法，其特征在于所述方法用于已知负载电压，使用取样电阻测量回路电流求负载阻抗的测量设备中；根据阻抗测试原理，分析误差产生的来源及误差对测试结果的影响，得到阻抗校准公式；测试已知阻值的标准电阻，将标准电阻的阻值及测量阻值代入校准公式中，计算得到测量系统中输出回路的取样电阻、修正电阻的等效测试参数；在校准时采用两个标准电阻进行多次循环校准以提高校准精度，从而校准至精确的等效测试参数；所述校准方法在校准时使用多个标准电阻进行测试，应用优化方法得到最优解，从而校准至精确的等效测试参数；所述的阻抗校准公式为： 式中R1、R2为两个已知阻值的标准电阻，R10、R20分别为标准电阻R1、R2的测试值，r0、r’分别为取样电阻的初始值和等效取样电阻，Rfix0、Rfix’分别为修正电阻的初始值和等效修正电阻值；所述的校准方法中测量系统连接测试夹具、测试棒等外部测试装置时，通过测量设备的校准，修正由外部测试装置引起的测量结果偏差；所述的校准方法中，当测量回路施以直流电压时，测量电阻；当测量回路施以交流信号时，测量阻抗曲线；所述的优化方法为最小二乘法；所述的被测电声器件至少包括动圈扬声器单元、动圈受话器单元、扬声器闭箱系统、扬声器倒相箱系统或麦克风中的一种。