[发明专利]非接触式空间曲线精密测量方法和装置在审
申请号: | 201610417568.2 | 申请日: | 2016-06-14 |
公开(公告)号: | CN106123780A | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 李虹;项鹏飞;田雨丰;苏美帆 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100044*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种非接触式空间曲线精密测量方法和装置,其中,该方法包括:确定测量点;获取所述测量点到待测线的起始点i的距离di和第i个点的角度信息;此处i的初值为1;获取所述测量点到待测线的下一个点i+1的距离di+1和第i+1个点角度信息,该点应与前一个点的距离非常近;根据所述第i个点的角度信息和所述第i+1个点角度信息做差确定相对旋转角度αi,通过公式计算i点到i+1点的近似长度;重复上述过程,不断测量的同时对i进行累加,直至待测线的结束点,n等于i不断累加的最终值,再通过l=l1+l2+…+ln确定所述待测线的长度。通过该发明实施例,能够做到彻底的非接触性测量,在距离测量物体较远的地方进行测量,并且能够达到对曲面的测量的目的。 | ||
搜索关键词: | 接触 空间 曲线 精密 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
一种非接触式空间曲线精密测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,确定测量点,i初值为1,点1为待测线的一个端点;S2,获取所述测量点到待测线的点i的距离di和第i个点的角度信息;S3,获取所述测量点到所述待测线的点i+1的距离di+1和第i+1个点的角度信息;S4,根据所述第i个点的角度信息和所述第i+1个点的角度信息通过做差的方式确定相对旋转角度αi,运用公式确定i点到i+1点长度;S5,判断点i是否为待测线的最后一点,如果不是,则i=i+1且重复执行S2到S4,如果点i为待测线的最后一点,则n=i,执行S6,其中i为测量过程中不断累加的i的最终值;S6,通过公式l=l1+l2+…+ln确定所述待测线的长度。
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