[发明专利]利用弯曲变形测量DNA分子间作用力的方法在审
申请号: | 201610417673.6 | 申请日: | 2016-06-13 |
公开(公告)号: | CN106124105A | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 班书昊;李晓艳;蒋学东;何云松;席仁强;徐然;谭邹卿 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01L1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 213164 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了利用弯曲变形测量DNA分子间作用力的方法,主要涉及DNA分子间作用力的检测与测量领域。它包括固定端、装设于固定端上的微悬臂复合梁、装设于微悬臂复合梁右端底部上的位移传感器;微悬臂复合梁包括DNA分子吸附层、高弹体层和硅片层,DNA分子吸附层位于高弹体层的上部,厚度为5微米;硅片层位于高弹体层的下部,其厚度为5‑10微米;高弹体层的厚度为30‑50微米;位移传感器装设于硅片层右端的最低部。本发明是一种利用微悬臂梁的弯曲变形、准确测量测量DNA分子间作用力的方法。 | ||
搜索关键词: | 利用 弯曲 变形 测量 dna 分子 间作 用力 方法 | ||
【主权项】:
利用弯曲变形测量DNA分子间作用力的方法,其特征在于:包括固定端(2)、装设于所述固定端(2)上的微悬臂复合梁(1)、装设于所述微悬臂复合梁(1)右端底部上的位移传感器(5);所述微悬臂复合梁(1)包括DNA分子吸附层(11)、高弹体层(12)和硅片层(13),所述DNA分子吸附层(11)位于所述高弹体层(12)的上部,厚度为5微米;所述硅片层(13)位于所述高弹体层(12)的下部,其厚度为5‑10微米;所述高弹体层(12)的厚度为30‑50微米;所述位移传感器(5)装设于所述硅片层(13)右端的最低部。
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