[发明专利]一种导磁材料磁特性的测量装置有效

专利信息
申请号: 201610420685.4 申请日: 2016-06-14
公开(公告)号: CN105842639B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 付兴贺;徐磊;丁超;林明耀;刘凯 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01R33/14;G01R33/02
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 吴旭
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种导磁材料磁特性的测量装置,该装置包括两个U型铁芯单元和X形测试样片,所述U型单元包括底部铁芯、两个侧边铁芯、励磁绕组、感应绕组,励磁绕组和感应绕组分别设置在两个侧边铁芯上;两个U型单元开口处相对,安装在所述的X形测试样片的上层和下层;通过设置所述的测量装置的测量条件,实现了对偏置磁场下的导磁材料的磁化特性测量和在交变磁化和旋转磁化条件下的导磁材料磁化特性测量。本发明的一种导磁材料磁特性的测量装置,结构简单、操作方便、测量准确,并可以指导存在磁场偏置、交变磁化及旋转磁化等条件下的电工设备的设计与优化。
搜索关键词: 一种 材料 特性 测量 装置
【主权项】:
1.一种导磁材料磁特性的测量装置,其特征在于,包括两个U型单元和被测X形样片,所述U型单元包括底部铁芯、两个侧边铁芯、励磁绕组、感应绕组,所述的励磁绕组和感应绕组分别设置在两个侧边铁芯上;所述的两个U型单元开口处相对,安装在所述的X形测试样片的上层和下层,其中上层U型单元的两个开头分别置于X形样片的非相邻的两脚上,下层U型单元的两个开头分别置于X形样片的另外的两脚上。
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