[发明专利]颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量装置有效
申请号: | 201610421710.0 | 申请日: | 2016-06-14 |
公开(公告)号: | CN105928905B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 刘佳;何贤强;柳稼航;白雁 | 申请(专利权)人: | 国家海洋局第二海洋研究所;中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/01 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 王一琦 |
地址: | 310012 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量装置,该测量装置包括固定框架、后向散射仪、偏振组件,该固定框架上设有偶数个光孔;光孔包括出射光孔和散射光孔,出射光孔与散射光孔之间一一对应;偏振组件安装于出射光孔处,且光能够垂直通过偏振组件穿过光孔入射到悬浮颗粒物水体中,经过颗粒物散射之后通过散射光孔返回颗粒物后向散射仪。通过该固定装置,将线偏振组件固定于颗粒物后向散射仪垂直光路中上,检测水箱内悬浮泥沙水体的后向散射系数。通过本发明提供的装置,能够探究光源偏振对颗粒物后向散射系数测量精度的影响,能够更精确的检测悬浮颗粒物水体的后向散射系数,实现水质及近岸海洋光学研究的目的。 | ||
搜索关键词: | 颗粒 散射 系数 偏振 敏感性 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于颗粒物后向散射系数偏振敏感性测量的固定装置,其特征在于,包括固定框架,所述框架上设有偶数个光孔;所述光孔包括出射光孔和散射光孔,所述出射光孔与所述散射光孔之间一一对应;偏振组件安装于所述出射光孔上,且光路垂直通过所述偏振组件。
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