[发明专利]位置校正用工具以及X射线位置计测装置有效
| 申请号： | 201610423198.3 | 申请日： | 2016-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN106441173B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 东海林健 | 申请（专利权）人： | 精工计时系统有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种位置校正用工具以及X射线位置计测装置，能够迅速且高精度地调整X射线发射器的发射中心与X射线相机的光轴。X射线位置计测装置的位置校正用工具用于利用X射线相机来拍摄基于从X射线发射器发射的X射线的图像并使对测定对象物进行测定的X射线位置计测装置的X射线发射器的X射线发射中心与X射线相机的光轴对准，其中，该位置校正用工具具有：第1透过部，其使X射线发射器侧发射的X射线透过；以及第2透过部，其使由第1透过部透过的X射线透过并投影到X射线相机，所述位置校正用工具将基于由第1透过部透过的X射线的第1投影像、和基于由第2透过部透过的X射线的第2投影像投影到X射线相机。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 校正 用工 以及 射线 装置 | ||
【主权项】：
1.一种位置校正用工具，该位置校正用工具是X射线位置计测装置的位置校正用工具，该X射线位置计测装置利用X射线相机来拍摄基于从X射线发射器发射的X射线的图像而对测定对象物进行测定，该位置校正用工具使所述X射线位置计测装置中的所述X射线发射器的X射线发射中心与所述X射线相机的光轴对准，其中，该位置校正用工具具有：/n第1透过部，其使所述X射线发射器侧发射的所述X射线透过；以及/n第2透过部，其使由所述第1透过部透过的所述X射线透过并投影到所述X射线相机，/n所述第1透过部具有使所述X射线透过的第1孔，/n所述第2透过部具有使所述X射线透过的第2孔，/n所述位置校正用工具将基于由所述第1透过部透过的所述X射线的第1投影像、和基于由所述第2透过部透过的所述X射线的第2投影像投影到所述X射线相机，/n通过执行使所述第2投影像的中心位置与所述X射线相机的图像传感器一致的处理、和使所述第1投影像的中心位置与所述X射线相机的图像传感器一致的处理，由此使得所述X射线发射器的X射线发射中心与所述X射线相机的光轴对准。/n
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