[发明专利]一种基于时间交错采样的高速高精度数据采集系统有效

专利信息
申请号: 201610426128.3 申请日: 2016-06-15
公开(公告)号: CN106154907B 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 郑红;李昊阳 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于时间交错采样的高速高精度数据采集系统,其包括信号阻抗匹配转换模块(1)、时钟产生模块(2)、FPGA芯片(3)、DSP芯片(4)、高速差分信号接口模块(5)和千兆网口传输模块(6)。时间交错是指对于两路相位差为180度的时钟信号作为采样驱动信号,所述采样驱动信号的上升沿交替出现,ADC芯片由所述采样驱动信号的上升沿作为触发进行采样,使时钟信号的频率产生倍频效果。本发明系统采样速率最高可到800MHz,采样位数14bit,能够完成对任何输入信号的数字化采集。
搜索关键词: 一种 基于 时间 交错 采样 高速 高精度 数据 采集 系统
【主权项】:
1.一种基于时间交错采样的高速高精度数据采集系统,该高速高精度数据采集系统包括有FPGA芯片(3)、DSP芯片(4)以及千兆网口传输模块(6),其特征在于还包括有:信号阻抗匹配转换模块(1)、时钟产生模块(2)以及高速差分信号接口模块(5);所述信号阻抗匹配转换模块(1)包括有第一输入阻抗匹配单元(111)、第一差分信号放大器(112)、第一延时器(113)、第一ADC芯片(114)、第二ADC芯片(115)、第二输入阻抗匹配单元(121)、第二差分信号放大器(122)、第二延时器(123)、第三ADC芯片(124)和第四ADC芯片(125);其中,第一输入阻抗匹配单元(111)、第一差分信号放大器(112)、第一延时器(113)、第一ADC芯片(114)和第二ADC芯片(115)构成第一信号采集通道;第一信号采集通道采样得到的信号记为第一通道信号M_in_1;其中,第二输入阻抗匹配单元(121)、第二差分信号放大器(122)、第二延时器(123)、第三ADC芯片(124)和第四ADC芯片(125)构成第二信号采集通道;第二信号采集通道采样得到的信号记为第二通道信号M_in_2;所述时钟产生模块(2)包括压控晶振(311)、可编程时钟倍频芯片(312)和时钟消抖芯片(313);当触发采样信号C7到来时,FPGA芯片(3)会发出第一ADC采集信号K3;该K3经高速差分信号接口模块(5)输出第二ADC采集信号K5,从而启动ADC采集过程;对采集到的微弱小信号M_in转化为14bit的数字差分采样信号M1;该M1经高速差分信号接口模块(5)输出第一差分信号M5;该M5经FPGA芯片(3)输出第二差分信号D3;D3再经DSP芯片(4),而后由千兆网口传输模块(6)输出第三差分信号D_out;第一延时器(113)对采样时钟T2进行180度相位延时处理,得到第一延时时钟T113;第二延时器(123)对采样时钟T2进行180度相位延时处理,得到第二延时时钟T123;第一ADC芯片数据(114)和第二ADC芯片数据(115)的采样时间相差采样时钟信号T2的半个周期,两个数据交替复现得到完整的数字信号;第一ADC芯片(114),当接受到第二ADC采集信号K5的启动指令后,依据采样时钟T2对第一差分信号M112进行采样处理转化为14bit的数字差分采样信号输出,记为第一路差分信号D114;第二ADC芯片(115),当接受到第二ADC采集信号K5的启动指令后,依据第一延时时钟T113对第一差分信号M112进行采样处理转化为14bit的数字差分采样信号输出,记为第二路差分信号D115;第三ADC芯片(124),当接受到第二ADC采集信号K5的启动指令后,依据采样时钟T2对第二差分信号M122进行采样处理转化为14bit的数字差分采样信号输出,记为第三路差分信号D124;第四ADC芯片(125),当接受到第二ADC采集信号K5的启动指令后,依据第二延时时钟T123对第二差分信号M122进行采样处理转化为14bit的数字差分采样信号输出,记为第四路差分信号D125;所述时钟产生模块(2)产生的采样时钟信号T2传输至第一ADC芯片(114)和第二ADC芯片(115)之间的电路布线长度存在误差,相应的时延误差为第二ADC芯片(115)所接受时钟的上升沿时刻减去第一ADC芯片(114)上升沿时刻,令为Δt11;第一ADC芯片(114)和第二ADC芯片(115)之间对时钟信号的响应时间存在差异,令为Δt12;所述时钟产生模块(2)产生的采样时钟信号T2传输至第三ADC芯片(124)和第四ADC芯片(125)之间的电路布线长度存在误差,相应的时延误差为第四ADC芯片(125)所接受时钟的上升沿时刻减去第三ADC芯片(124)上升沿时刻,令为Δt21;第三ADC芯片(114)和第四ADC芯片(125)之间对时钟信号的响应时间存在差异,令为Δt22;对于第一ADC芯片(114)与第二ADC芯片(115)之间存在的采样时间误差的校正、以及第三ADC芯片(124)与第四ADC芯片(125)之间存在的采样时间误差的校正步骤如下:AA步骤,计算第一ADC芯片(114)与第二ADC芯片(115)之间采样时间误差所占时钟周期的比例第三ADC芯片(124)与第四ADC芯片(125)之间采样时间误差所占时钟周期的比例AB步骤,如果X1‑0.5<‑0.05则通过FPGA芯片将给第二ADC芯片(115)的时钟相位延迟(X1‑0.5)×360°;AC步骤,如果X1‑0.5>+0.05则通过FPGA芯片将给第一ADC芯片(114)的时钟相位延迟(X1‑0.5)×360°;AD步骤,如果X2‑0.5<‑0.05则通过FPGA芯片将给第四ADC芯片(125)的时钟相位延迟(X2‑0.5)×360°;AE步骤,如果X2‑0.5>+0.05则通过FPGA芯片将给第三ADC芯片(124)的时钟相位延迟(X2‑0.5)×360°;对于X1‑0.5∈[‑0.05,+0.05]、X2‑0.5∈[‑0.05,+0.05]为时间误差的允许范围。
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