[发明专利]一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构有效

专利信息
申请号: 201610430735.7 申请日: 2016-06-17
公开(公告)号: CN106130545B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 周昕杰;陈嘉鹏;潘滨;张国贤;陈瑶 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: H03L7/085 分类号: H03L7/085;H03L7/089;H03L7/099
代理公司: 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 代理人: 杨立秋
地址: 214035 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构,该自偏置PLL加固结构是通过判别非加固自偏置PLL中单粒子效应对VBACK信号的影响,对单粒子效应敏感的自偏置产生电路进行加固,得到能够抗单粒子效应的VBACKR信号;并将第一压控振荡器输出的小信号经过放大后,再通过表决器表决,输出稳定的PLL输出信号。本发明与非加固自偏置PLL相比,具有更好的抗单粒子效应能力,并能够满足宇航应用的需求。
搜索关键词: 一种 粒子 辐射 偏置 pll 加固 结构
【主权项】:
1.一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构,其特征在于:所述自偏置PLL加固结构包括鉴频鉴相器(1)第一电荷泵(2)、第二电荷泵(3)、第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)、第一压控振荡器(6)、第一电容C1和第二电容C2;其中,所述鉴频鉴相器(1)的第一输入端接参考电平CLKIN,第二输入端接所述第一压控振荡器(6)输出的PLL信号;所述鉴频鉴相器(1)输出U1/D1信号给第一电荷泵(2),输出U2/D2信号给第二电荷泵(3);两组电荷泵的输出分别经过第一电容C1和第二电容C2,向第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)输入偏置信号,第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)产生不容易受单粒子效应扰动的VBACK信号反馈给第一电荷泵(2)和第二电荷泵(3),用于控制第一电荷泵(2)和第二电荷泵(3)的充放电;同时,第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)均产生VBNR、VBPR信号至第一压控振荡器(6),第一压控振荡器(6)输出抗辐射自偏置PLL信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所,未经中国电子科技集团公司第五十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610430735.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top