[发明专利]一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构有效
申请号: | 201610430735.7 | 申请日: | 2016-06-17 |
公开(公告)号: | CN106130545B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 周昕杰;陈嘉鹏;潘滨;张国贤;陈瑶 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | H03L7/085 | 分类号: | H03L7/085;H03L7/089;H03L7/099 |
代理公司: | 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 | 代理人: | 杨立秋 |
地址: | 214035 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构,该自偏置PLL加固结构是通过判别非加固自偏置PLL中单粒子效应对VBACK信号的影响,对单粒子效应敏感的自偏置产生电路进行加固,得到能够抗单粒子效应的VBACKR信号;并将第一压控振荡器输出的小信号经过放大后,再通过表决器表决,输出稳定的PLL输出信号。本发明与非加固自偏置PLL相比,具有更好的抗单粒子效应能力,并能够满足宇航应用的需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 粒子 辐射 偏置 pll 加固 结构 | ||
【主权项】:
1.一种抗单粒子辐射的自偏置PLL加固结构,其特征在于:所述自偏置PLL加固结构包括鉴频鉴相器(1)第一电荷泵(2)、第二电荷泵(3)、第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)、第一压控振荡器(6)、第一电容C1和第二电容C2;其中,所述鉴频鉴相器(1)的第一输入端接参考电平CLKIN,第二输入端接所述第一压控振荡器(6)输出的PLL信号;所述鉴频鉴相器(1)输出U1/D1信号给第一电荷泵(2),输出U2/D2信号给第二电荷泵(3);两组电荷泵的输出分别经过第一电容C1和第二电容C2,向第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)输入偏置信号,第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)产生不容易受单粒子效应扰动的VBACK信号反馈给第一电荷泵(2)和第二电荷泵(3),用于控制第一电荷泵(2)和第二电荷泵(3)的充放电;同时,第一自偏置产生电路(42)、第二自偏置产生电路(43)、第三自偏置产生电路(44)均产生VBNR、VBPR信号至第一压控振荡器(6),第一压控振荡器(6)输出抗辐射自偏置PLL信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所,未经中国电子科技集团公司第五十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610430735.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。