[发明专利]在硅衬底上沉积电介质薄膜的方法及太阳能电池在审
申请号: | 201610431569.2 | 申请日: | 2016-06-15 |
公开(公告)号: | CN107516692A | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | 崔杰;陈奕峰;皮尔·沃林顿;万义茂;张昕宇;安德烈斯·奎沃斯;汤姆·艾伦 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司;澳大利亚国立大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/02;H01L31/0216 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 孙英杰,陈亮 |
地址: | 213031 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提出了一种在硅衬底上沉积电介质薄膜的方法和应用该方法获得的太阳能电池。该方法包括清洗硅衬底的表面;在硅衬底的表面通过原子层沉积法沉积电介质薄膜,在温度T1低于350摄氏度下循环操作以下步骤直至电介质薄膜达到一预定厚度D1持续供给含钛反应化合物,通过原子层沉积法使含钛反应化合物均一覆盖在硅衬底的表面,持续供给含钛反应化合物的时长t1;第一次氮气清洗,清洗时长t2。本发明提供的在硅衬底上沉积电介质薄膜的方法和应用该方法获得的太阳能电池,能有效钝化硅衬底的表面,减少表面反射率,在提高硅太阳能电池的光电转换效率的同时简化了硅太阳能电池的生产工艺,降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 衬底 沉积 电介质 薄膜 方法 太阳能电池 | ||
【主权项】:
一种在硅衬底上沉积电介质薄膜的方法,包括:清洗所述硅衬底的表面;在温度T1低于350摄氏度下,在所述硅衬底的表面通过原子层沉积法沉积一预定厚度D1的所述电介质薄膜,包括以下步骤:2.1持续供给含钛反应化合物,通过原子层沉积法使所述含钛反应化合物均一覆盖在所述硅衬底的表面,持续供给所述含钛反应化合物的时长t1;2.2第一次氮气清洗,清洗时长t2;2.3在氧化剂气氛下,使所述含钛反应化合物被氧化成高价钛氧化物,持续时长t3;2.4第二次氮气清洗,清洗时长t4;2.5当所述电介质薄膜达到预定厚度D1,则完成所述电介质薄膜的沉积;当所述电介质薄膜未达到预定厚度D1,回到步骤2.1;其中,10ms≤t1≤1000ms,100ms≤t2、t4≤2000ms,10ms≤t3≤500ms。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的