[发明专利]液冷冷板热阻的瞬态电学测试方法

摘要

本发明提出的一种液冷冷板热阻的瞬态电学测试方法，旨在提供一种快速测量高热流密度电子设备液冷冷板热阻的方法。本发明通过下述技术方案予以实现：瞬态热测试仪T3Ster仪器相连计算机，将半导体器及其适配器连接到T3Ster测试主机的对应接口上；测试出的被测半导体器的电压温度系数(k系数)值，并保存文件；然后在计算机内置的T3Ster测试软件中，根据半导体器和冷板特性，设置加热时间、冷却时间、加热电流、测试电流和电压表量程主要参数；用T3Ster瞬态电学测试获取被测半导体器的冷却曲线；进行数据分析，去掉测试曲线中的噪点、对测试曲线进行数学变换；计算微分结构函数，根据微分结构函数分离出被测液冷冷板的热阻数值，得到冷板热阻值。

主权项

1.一种电学测试液冷冷板瞬态热阻的方法，其特征在于包括如下步骤：瞬态热测试仪T3Ster仪器电连接计算机，将半导体器件及其适配器连接到T3Ster测试主机的对应接口上；然后在计算机内置T3Ster的测试软件中，根据半导体器件和冷板特性，设置加热时间、冷却时间、加热电流、测试电流和电压表量程主要参数；瞬态热测试仪T3Ster根据抽取出的半导体器件的冷却曲线，将取出的冷却曲线的纵坐标，以k系数作为分母进行变换，得到半导体器件的结温变化曲线，并根据结温变化曲线，以半导体器件功率作为分母再次进行变换，获得横坐标为时间常数 ，纵坐标为热阻，R是热阻，C是热容的半导体器件的热阻曲线，然后根据得到的热阻曲线交换热阻曲线的横纵坐标，并再次进行数学变换，得微分结构函数曲线；在瞬态电学测试中，瞬态热测试仪T3Ster获取被测半导体器的冷却曲线并保存为测试文件；输入之前测试出的被测半导体器的电压温度系数k的系数值，并保存文件；去掉测试曲线中的噪点，计算半导器件的微分结构函数，从微分结构函数的多个极值点中分离出冷板热阻、接触热阻、器件散热器热阻、封装热阻和半导体器件结热阻的信息；最后根据分离结果得到被测液冷冷板的热阻数值。