[发明专利]一种可以降低择优取向的X射线衍射背压法透过试样板在审
| 申请号： | 201610437037.X | 申请日： | 2016-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN106124540A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 于龙;杨正宏;孙振平;李好新 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 张磊 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种可以降低择优取向的Ｘ射线衍射背压法透过试样板，由试样板和载物片组成，试样板上开有样品孔，试样板正反两面样品孔的四周覆盖有磁性物质，所述载物片采用铁质材料，载物片可以通过试样板上的磁性物质粘贴于试样板上；载物片的正反两面抛光后表面涂有防沾物质，防止粉末样品粘在载物片上。制样时，将一块载物片通过磁性物质吸在试样板正面上，试样板翻转，接着将粉末样品装在样品孔内后，然后将另外一片载物片吸在试样板背面上，将试样板翻正，最后将吸在试样板正面的一块载物片取下，即可进行测试。本发明可以显著地降低样品表面区域所产生的择优取向，从而降低衍射线相对强度的变化而造成的误差，获得更加准确的X射线衍射图谱和测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可以 降低 择优取向 射线 衍射 背压法 透过 试样 | ||
【主权项】：
一种可以降低择优取向的Ｘ射线衍射背压法透过试样板，由试样板和载物片组成，其特征在于试样板上开有样品孔，试样板正反两面样品孔的四周覆盖有磁性物质，所述载物片采用铁质材料，载物片可以通过试样板上的磁性物质粘贴于试样板上；载物片的正反两面抛光后表面涂有防沾物质，防止粉末样品粘在载物片上；制样时，将一块载物片通过磁性物质吸在试样板正面上，试样板翻转，接着将粉末样品装在样品孔内后，然后将另外一片载物片吸在试样板背面上，将试样板翻正，最后将吸在试样板正面的一块载物片取下，即可进行测试。
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