[发明专利]一种大型轴承轴向游隙测量方法在审

专利信息
申请号: 201610437952.9 申请日: 2016-06-17
公开(公告)号: CN105865395A 公开(公告)日: 2016-08-17
发明(设计)人: 孙怀全;刘红莉;孙慧广;徐雷;张翔;赵立新;张长之;王淼;张宏峤;金宏宇;杨志军;廖子华;佐景涛;李迎丽 申请(专利权)人: 中航工业哈尔滨轴承有限公司
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 王大为
地址: 150025 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种大型轴承轴向游隙测量方法,本发明为了解决现有技术中外径尺寸在φ300mm~φ700mm的轴承没有定型轴向游隙检测仪器,步骤一:准备工具;步骤二:测量轴承外圈公称尺寸偏差和轴承内圈公称尺寸偏差;步骤三:测量轴承两端外圈自由下垂时内圈端面凸出或凹陷的距离;步骤四:代入轴向游隙的计算公式计算球轴承轴向游隙实际值,Ga=﹝(C+ΔC)‑(B+ΔB)﹞‑(δ12),进而得出球轴承轴向游隙测量实际值。本发明用于大型轴承轴向游隙测量时使用。
搜索关键词: 一种 大型 轴承 轴向 游隙 测量方法
【主权项】:
一种大型轴承轴向游隙测量方法,其特征在于:所述方法是按照以下步骤实现的:步骤一:准备工具:准备实验平台、固定表架、测量仪表、量块、垫圈和一个待测量的轴承,垫圈内径的尺寸与轴承内圈内径的尺寸相同,垫圈外径的尺寸与轴承内圈外径的尺寸相同,测量仪表安装在固定表架上;步骤二:测量轴承外圈公称尺寸偏差和轴承内圈公称尺寸偏差:将待测量的轴承放置在实验平台上,用量块作为轴承宽度测量基准进行对表,分别测量出轴承外圈宽度公称尺寸偏差为ΔC和内圈宽度公称尺寸偏差ΔB;步骤三:测量轴承两端外圈自由下垂时内圈端面凸出或凹陷的距离:将待测量的轴承水平放置在实验平台上,并在待测轴承内圈的一个端面下方放置垫圈,使轴承外圈能自有下垂,轴承外圈处于最低极限位置,测量时是以轴承内圈被支承,以轴承内圈端面作为基准平面,轴承外圈相对于轴承内圈发生轴向方向的位移变化,通过测量仪表测出一端轴承的外圈自由下垂时轴承外圈一侧端面相对于同一侧内圈端面凸出或凹陷的距离为δ1,将待测量的轴承翻转180度水平放置在实验平台上,使轴承内圈的另一个端面下方放置垫圈,使轴承外圈能自有下垂,轴承外圈处于最低极限位置,测量时是以另一端轴承内圈被支承,以轴承内圈端面作为基准平面,轴承外圈相对于轴承内圈发生轴向方向的位移变化,通过测量仪表测出另一端轴承的外圈自由下垂时轴承外圈一侧端面相对于同一侧内圈端面凸出或凹陷的距离为δ2;步骤四:代入轴向游隙的计算公式计算球轴承轴向游隙实际值:Ga为球轴承轴向游隙实际值,Ga=﹝(C+ΔC)‑(B+ΔB)﹞‑(δ12),式中C为轴承外圈宽度公称尺寸,B为轴承内圈宽度公称尺寸,进而得出球轴承轴向游隙测量实际值。
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