[发明专利]U型蚀刻直角台面硅二极管及其硅芯和制备方法在审

专利信息
申请号: 201610439122.X 申请日: 2016-06-16
公开(公告)号: CN106098791A 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 陈福元;胡煜涛;毛建军;任亮;苏云清;虞旭俊 申请(专利权)人: 杭州赛晶电子有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 张法高;傅朝栋
地址: 310000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种U型蚀刻直角台面硅二极管及其硅芯和制备方法。制备方法包括如下步骤:1)在N‑型(110)晶面硅单晶片的正、反两表面分别同时扩散入P+型和N+型杂质,得到P+N‑N+型硅扩散晶圆片;2)在P+N‑N+型硅扩散晶圆片的正、反面镀上镍层;3)在P+N‑N+型硅扩散晶圆片的正、反面涂上抗腐蚀胶,N+面上开启井字形腐蚀槽窗口;4)用硅各向异性择优腐蚀液对硅扩散晶圆片的N+面井字形腐蚀槽窗口进行化学腐蚀,获得U型蚀刻直角台面P+N‑N+型硅芯;5)对U型蚀刻直角台面P+N‑N+型硅芯进行去胶、锯切、焊接、清洗、台面钝化、压模成型,封装成硅二极管。本发明制造工艺简化,低成本,易于规模生产,产品性价比较高,产生显著经济效益。
搜索关键词: 蚀刻 直角 台面 二极管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种U型蚀刻直角台面硅二极管硅芯,其特征在于由下到上分别为P+型杂质扩散层、原始硅单晶N‑型层和N+型杂质扩散层,硅芯侧面的台面呈直角,所述的直角台面为完整光滑的平面。
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