[发明专利]高分子材料内部缺陷无损检测装置在审

专利信息
申请号: 201610442420.4 申请日: 2016-06-20
公开(公告)号: CN105910986A 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 王鸣山;王胜男 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01N19/08 分类号: G01N19/08
代理公司: 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 代理人: 胡恩河;马倩
地址: 300180 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种高分子材料内部缺陷无损检测装置,包括通过连接线依次顺序连接的函数信号发生器、功率放大器和激振器,待测工件通过弹性绳索悬挂于支架上,待测工件下底面与激振器触发端相接触;多个加速度传感器沿圆周均布粘贴于待测工件表面,加速度传感器通过连接线与电荷放大器连接,电荷放大器通过连接线与数字信号处理装置连接。本发明提供了一种在不破坏物料的前提下,对高分子材料内部结构进行检测的装置,通过激振器对高分子材料产生的迫振,通过振型分析装置可准确获得缺陷类型和发生位置。
搜索关键词: 高分子材料 内部 缺陷 无损 检测 装置
【主权项】:
一种高分子材料内部缺陷无损检测装置,其特征在于:包括通过连接线(2)依次顺序连接的函数信号发生器(1)、功率放大器(3)和激振器(9),待测工件(6)通过弹性绳索(5)悬挂于支架(4)上,待测工件(6)下底面与激振器(9)触发端相接触;多个加速度传感器(10)沿圆周均布粘贴于待测工件(6)表面,加速度传感器(10)通过连接线(2)与电荷放大器(7)连接,电荷放大器(7)通过连接线(2)与数字信号处理装置(8)连接。
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