[发明专利]基于散射参量的局放特高频检测系统现场校核方法

摘要

本发明涉及一种基于散射参量的局放特高频检测系统现场校核方法。该方法：1)将GIS上两相邻特高频传感器及传感器间的GIS结构等效为二端口微波网络；2)通过研究二端口微波网络的散射参量，获得GIS上安装的两相邻传感器间的散射参量S₂₁，确定特高频传感器有效检测频带内传输系数的平均值，进而实现特高频局部放电在线检测系统的现场校核；所述微波网络分析仪在进行校核之前还可通过预先测量两特高频传感器所在端口的散射参量S₁₁，结合传感器的特点判断其工作状态。本发明校核方法测量误差小，检测灵敏度高，抗干扰能力强，为特高频局部放电在线监测装置的现场校核提供参考依据。

主权项

一种基于散射参量的局放特高频检测系统现场校核方法，其特征在于：采用微波网络分析仪，对GIS上安装的局部放电特高频检测系统进行现场校核，具体包括如下步骤，S1：将GIS上两相邻特高频传感器C1、C2及C1、C2之间的GIS结构等效为二端口微波网络；S2：设置微波网络分析仪工作于双端口工作模式，设置测量参数，并进行校核，以消除测量误差；S3：将微波网络分析仪的两端口分别通过射频同轴线缆与特高频传感器C1、C2连接；S4：控制微波网络分析仪执行二端口网络传输系数测量，获得特高频传感器C1、C2间的散射参量S₂₁，其中， H₁(f)、H₂(f)、H_G(f)分别为特高频传感器C1、特高频传感器C2及C1、C2之间的GIS结构的传递函数；根据上式确定特高频传感器C1、C2在300MHz~1500MHz内散射参量的平均值S_av，其中，S₂₁(i)为第i个采样点的散射参量，亦即插入损耗值；N为300MHz~1500MHz间总采样点数；由S_av，即可表征特高频传感器C1、C2的布置能否检测到两传感器间任意位置的缺陷放电。