[发明专利]一种可直接溯源的高精度齿轮误差测量方法有效
申请号: | 201610443810.3 | 申请日: | 2016-06-21 |
公开(公告)号: | CN107525465B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 薛梓;林虎;黄垚;杨国梁;王鹤岩 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 李冉 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种可直接溯源的高精度齿轮误差测量方法。传统测量方法存在的阿贝误差和间接溯源都限制了测量精度的提升,本发明采用激光干涉测长作为测量标准,直接对齿轮误差进行测量。通过设计和布局可减小装置阿贝误差的激光干涉测长双光路,将激光干涉测长光路布置在齿轮被测点附近,阿贝臂长基本为零,大大降低了原理性的阿贝误差,同时激光波长可以直接溯源到长度基准“米”,从根本上提高了齿轮误差测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 直接 溯源 高精度 齿轮 误差 测量方法 | ||
【主权项】:
一种可直接溯源的高精度齿轮误差测量方法,其特征在于:将激光干涉测长光路布置在齿轮被测点附近直接测量齿轮误差,阿贝臂长基本为零,大大降低了原理性的阿贝误差。
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