[发明专利]宽角扫描旋转圆极化微带阵列天线的轴比优化方法在审

专利信息
申请号: 201610444197.7 申请日: 2016-06-17
公开(公告)号: CN106096160A 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 李佳美 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出了一种宽角扫描旋转圆极化微带阵列天线的轴比优化方法,利用本发明能够显著改善宽角扫描状态下旋转圆极化微带阵列天线的轴比,能够实现较高的天线增益和后瓣电平。本发明通过下述技术方案予以实现:在仿真软件HFSS中建立阵列天线仿真模型;在宽角扫描状态下对阵列天线进行仿真计算,针对任一波束指向,利用VBscript程序保存输出各单元内各阵元的正交电场数据;然后,以2×2子阵为一个计算单元,以阵元电场数据为基础分别利用MATLAB程序计算各单元满足圆极化条件下单元内各阵元实际所需的激励幅度和激励相位;HFSS的仿真数据处理模块直接加载MATLAB保存输出的各单元实际所需的激励幅度和激励相位重新进行仿真计算,实现轴比优化。
搜索关键词: 扫描 旋转 极化 微带 阵列 天线 优化 方法
【主权项】:
一种宽角扫描旋转圆极化微带阵列天线的轴比优化方法,其特征在于包括如下步骤:在三维仿真软件HFSS中,建立以圆极化微带贴片为阵元的旋转圆极化微带阵列天线仿真模型,针对天线不同波束指向,利用MATLAB程序自动计算各阵元所需激励相位,MATLAB程序保存输出的计算结果由HFSS的仿真数据处理模块Edit Source直接加载到仿真模型中进行仿真计算,并根据仿真模型计算输出的宽角扫描状态下阵列天线轴比仿真结果,判断天线轴比是否满足要求,否,则利用VBscript程序提取不同波束指向情况下各阵元在三维坐标系球中θ、φ两个正交坐标方向的远场电场数据,且提取电场数据时,各阵元的激励相位只包含波束扫描所需补偿相位;然后,根据阵列天线分布将阵列天线划分为若干个2×2子阵,以2×2子阵为一个计算单元,利用MATLAB程序读取各单元内各阵元的正交电场数据,以阵元电场数据为基础分别计算各单元满足圆极化条件下单元内各阵元实际所需的激励幅度和激励相位;HFSS的仿真数据处理模块Edit Source直接加载MATLAB保存输出的各单元实际所需的激励幅度和激励相位重新进行仿真计算,即可实现对宽角度扫描圆极化微带阵列天线的轴比优化。
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