[发明专利]一种板类产品加工光学对位方法

摘要

本发明实施例提供一种板类产品加工光学对位方法，包括：L型光电测试平台的X轴和Y轴上均设有光电传感器；将载物台沿L型光电测试平台的X轴方向移动，至Y轴任意一个光电传感器的状态发生变化时停止移动；将载物台沿Y轴方向移动；计算载物台沿Y轴的移动距离；计算待加工基板X方向边缘与X轴的偏移角度；将载物台旋转偏移角度，使待加工基板X方向边缘平行于X轴；依次沿X轴和Y轴方向移动载物台，将待加工基板移动至指定位置，对位完成。使用本发明提供的板类产品加工光学对位方法可以快速有效地对待加工基板进行位置的校正，相对于现有的利用坐标计算的方法，既精确又简单。

主权项

1.一种板类产品加工光学对位方法，其特征在于，包括：步骤一：设置一L型光电测试平台，所述L型光电测试平台设有一X轴和一Y轴，所述X轴和Y轴上均至少设有2个光电传感器；步骤二：将待加工基板沿L型光电测试平台的X轴方向移动，至所述L型光电测试平台Y轴任意一个光电传感器的状态发生变化时停止移动；步骤三：再将所述待加工基板沿L型光电测试平台的Y轴方向移动，至所述L型光电测试平台X轴任意一个光电传感器的状态发生变化时开始计时；继续将所述待加工基板沿L型光电测试平台的Y轴方向移动，至所述L型光电测试平台X轴任意另一个光电传感器的状态发生变化时结束计时；步骤四：计算所述待加工基板在计时的时间段内沿L型光电测试平台的Y轴方向的移动距离；结合L型光电测试平台X轴上发生状态变化的两个光电传感器在X轴上的距离，计算待加工基板X方向与L型光电测试平台的X轴方向的偏移角度；步骤五：将所述待加工基板旋转所述偏移角度，使待加工基板X方向平行于L型光电测试平台X轴；步骤六：依次沿L型光电测试平台的X轴和Y轴方向移动所述待加工基板，将待加工基板移动至指定位置，对位完成；将所述待加工基板移动至指定位置包括：沿L型光电测试平台的X轴方向移动所述待加工基板，直到所述L型光电测试平台Y轴上的所有光电传感器同时发生状态变化时停止；再沿L型光电测试平台的Y轴方向移动所述待加工基板，直到所述L型光电测试平台X轴上的所有光电传感器同时发生状态变化时停止。