[发明专利]一种薄膜晶体管阵列基板及液晶面板有效

专利信息
申请号: 201610452464.5 申请日: 2016-06-21
公开(公告)号: CN105929615B 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 梁博;王选芸 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/77;H01L27/32
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 梁恺峥
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种薄膜晶体管阵列基板及液晶面板。该薄膜晶体管阵列基板包括:基板,以及形成于基板上的硅薄膜晶体管、半导体氧化物晶体管和电容。其中,硅薄膜晶体管和半导体氧化物晶体管具有相同的顶栅结构,从而可以兼容硅薄膜晶体管和半导体氧化物晶体管制程,减少光刻胶掩膜板的使用次数,进而减少薄膜晶体管阵列基板的生产成本。另外,电容和硅薄膜晶体管或半导体氧化物晶体管重叠设置,从而可以大大增加底发射的OLED的开口率。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 阵列 液晶面板
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管阵列基板,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基板包括:基板,以及形成于所述基板上的硅薄膜晶体管、半导体氧化物晶体管和电容;所述硅薄膜晶体管和所述半导体氧化物晶体管具有顶栅结构;所述电容和所述半导体氧化物晶体管重叠设置;所述薄膜晶体管阵列基板包括:间隔设置于所述基板上的多晶硅层和半导体氧化层;覆盖所述多晶硅层和半导体氧化层的栅极绝缘层;间隔设置于所述栅极绝缘层上的第一栅极、第一金属层、第二栅极,其中,所述第一栅极位于所述多晶硅层的上方,所述第二栅极位于所述半导体氧化层的上方;覆盖所述第一栅极、第一金属层和第二栅极的蚀刻阻挡层,所述蚀刻阻挡层包括层迭设置的第一绝缘层和第二绝缘层;设置于所述蚀刻阻挡层上的源漏金属层,所述源漏金属层包括间隔设置的第一源极、第一漏极、第二源极和第二漏极,其中,所述第一源极和第一漏极分别与所述多晶硅层相接触,所述第二源极和所述第二漏极分别与所述半导体氧化层相接触;其中,所述多晶硅层、所述栅极绝缘层、所述第一栅极、所述蚀刻阻挡层、所述第一源极和所述第一漏极形成所述硅薄膜晶体管;所述半导体氧化层、所述栅极绝缘层、所述第二栅极、所述蚀刻阻挡层、所述第二源极和所述第二漏极形成所述半导体氧化物晶体管;所述薄膜晶体管阵列基板包括第三金属层,所述第三金属层设置于所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间,且位于所述第二栅极的上方;其中,所述第二栅极、所述第一绝缘层和所述第三金属层形成所述电容。
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