[发明专利]一种结晶型抗性淀粉含量的测定方法在审

专利信息
申请号: 201610452821.8 申请日: 2016-06-22
公开(公告)号: CN106053501A 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 田耀旗;李晓晓;詹锦玲;胡秀婷;陈龙;金征宇;杨哪;孙冰华 申请(专利权)人: 江南大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 时旭丹;张仕婷
地址: 214122 江苏省无锡市滨湖区蠡湖*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种结晶型抗性淀粉含量的测定方法,属于食品科学与技术领域。本方法利用X‑射线衍射测定结晶型抗性淀粉样品的结晶特性,通过结晶分区积分得到样品中微晶和亚微晶的含量计算结晶型抗性淀粉样品中的抗性淀粉含量。即采用X‑射线衍射仪分析已知抗性淀粉含量的结晶样品,将抗性淀粉含量与微晶含量、亚微晶含量进行相关性分析,获得样品中抗性淀粉的含量与微晶、亚微晶含量的回归方程;再将待测样品X‑射线衍射图谱中微晶、亚微晶含量代入方程,即可获得待测样品的抗性淀粉含量。相比于传统酶法操作繁琐、重复性差等缺点,本发明所提供的一种结晶型抗性淀粉含量的测定方法,具有操作简单、重复性等显著优势。
搜索关键词: 一种 结晶 抗性 淀粉 含量 测定 方法
【主权项】:
一种结晶型抗性淀粉含量的测定方法,其特征在于:选择4~6个已知抗性淀粉含量的结晶型抗性淀粉样品,粉碎过100目筛,在饱和NaCl水溶液的密闭容器中平衡1h,采用X‑射线衍射仪分析得到衍射图谱,扫描范围(2θ)为4‑60°,通过晶体分区积分得到样品中微晶和亚微晶的含量;将抗性淀粉含量与微晶含量、亚微晶含量进行相关性分析,得到回归方程;再测定待测样品的X‑射线衍射图谱,将待测样品的微晶、亚微晶含量代入回归方程,即得到相应的抗性淀粉含量。
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