[发明专利]两状态系统的GO法中可靠度计算方法在审
| 申请号： | 201610453317.X | 申请日： | 2016-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN107526851A | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 王任泽;张建岗;庄大杰;赵兵;李国强;王学新 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙)11311 | 代理人： | 田明,任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于系统可靠性分析技术，具体涉及一种两状态系统的GO法中可靠度计算方法。该方法先求出系统的最小路集，再通过所有最小路集应用容斥定理计算得到系统的可靠度。本发明适合共有信号多的两状态系统的GO法分析中的可靠度计算，原理简单，易于编程。 | ||
| 搜索关键词： | 状态 系统 go 可靠 计算方法 | ||
【主权项】：
一种两状态系统的GO法中可靠度计算方法，包括：获取两状态系统的全部n个最小路集，分别为R1,R2…Rn，每个最小路集Ri以向量表示为[m,n,p…]，其中，m,n,p…表示最小路集Ri中含有的功能操作符编号；系统的可靠度A通过所有最小路集应用容斥定理计算得到：A=Σi=1nP(Ri)-Σi=1,j=i+1nP(RiRj)+Σi=1,j=i+1,k=j+1nP(RiRjRk)......+(-1)n+1P(R1R2...Rn)]]>其中，RiRj表示路集Ri和Rj的并集，P(RiRj)表示Ri和Rj并集的概率；RiRjRk表示路集Ri、Rj和Rk的并集，P(RiRjRk)表示Ri、Rj和Rk并集的概率……以此类推，几个向量的并集向量包含这几个向量的全部元素，并集的概率为其中含有的全部功能操作符所代表单元的可靠度的乘积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国辐射防护研究院，未经中国辐射防护研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610453317.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
