[发明专利]光配向基板的检测装置和方法有效
| 申请号： | 201610453779.1 | 申请日： | 2016-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN105842889B | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 张军;李亚君 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光配向基板的检测装置和方法，包括：光源设备和光学检测设备；所述光源设备用于向待测光配向基板出射偏振光；其中，所述偏振光到达所述待测光配向基板后进行反射形成反射光；所述光学检测设备用于检测所述待测光配向基板的配向方向与所述偏振光的偏振方向处于不同夹角时的所述反射光的光强。本发明实施例提供的光配向基板的检测装置和方法，通过检测待测光配向基板的偏振方向与偏振光的偏振方向处于不同夹角时，入射到待测光配向基板的偏振光的反射光的光强，根据反射光的光强变化，就可以得到不同夹角时待测光配向基板的吸收强度，以此来确定待测光配向基板的配向角度，配向的强弱以及整个基板配向的均一性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光配向基板的检测装置，其特征在于，包括：光源设备和光学检测设备；所述光源设备用于向待测光配向基板出射偏振光；其中，所述偏振光到达所述待测光配向基板后进行反射形成反射光；所述光学检测设备用于检测所述待测光配向基板的配向方向与所述偏振光的偏振方向处于不同夹角时的所述反射光的光强；根据反射光的光强变化，就可以得到不同夹角时待测光配向基板的吸收强度，以此来确定待测光配向基板的配向角度，配向的强弱以及整个基板配向的均一性；其中，所述偏振光的偏振方向与所述待测光配向基板平行。
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