[发明专利]一种植被光合有效辐射吸收率的遥感估算方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610454305.9 申请日: 2016-06-21
公开(公告)号: CN106198437B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 李喆;郭旭东;古春 申请(专利权)人: 中国土地勘测规划院
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N21/359;G01N21/3554
代理公司: 北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11624 代理人: 任漱晨
地址: 100035 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种植被光合有效辐射吸收率的遥感估算方法及装置,所述方法包括:以微分法对原始光谱曲线进行前置处理,得到二阶微分曲线,并利用二阶微分曲线对原始光谱曲线进行去噪预处理;对去噪预处理后的光谱曲线进行去包络线处理,得到去包络线后的光谱曲线;利用所述去包络线后的光谱曲线,识别特征吸收峰并提取其光谱吸收指数SAI;根据所述特征吸收峰SAI,获取融入可见光‑近红外高光谱吸收特征的新型植被指数,从而进行植被光合有效辐射吸收率FAPAR的遥感估算。上述技术方案具有如下有益效果:构建融入可见光‑近红外高光吸收特征的新型植被指数,提高常规可见光-近红外植被指数的总体估算精度,从而提高植被光合有效辐射吸收率的遥感估算精度。
搜索关键词: 一种 植被 光合 有效 辐射 吸收率 遥感 估算 方法 装置
【主权项】:
1.一种植被光合有效辐射吸收率的遥感估算方法,其特征在于,所述方法包括:以微分法对原始光谱曲线进行前置处理,对原始光谱曲线波段上各采样点按公式:计算其二阶微分量,从而得到二阶微分曲线,并利用二阶微分曲线对原始光谱曲线进行去噪预处理,其中,λι代表波段上第i个采样点的波长;Ri代表波段上第i个采样点的原始光谱反射率;SDRi代表波段上第i个采样点的二阶微分,i=1,2......N,N为样本点数,即二阶微分曲线在波段上的总点数;对去噪预处理后的光谱曲线进行去包络线处理,得到去包络线后的光谱曲线;利用所述去包络线后的光谱曲线,识别特征吸收峰并提取其光谱吸收指数SAI;根据所述特征吸收峰SAI,获取融入可见光‑近红外高光谱吸收特征的新型植被指数,从而进行植被光合有效辐射吸收率FAPAR的遥感估算,具体包括以下步骤:通过对特征吸收峰SAI进行数学变化,构建新型植被指数:其中,SAIMx为吸收峰Mx的SAI值,其分子与分母均包含C1与C2,其中,C1由对叶绿素浓度敏感的蓝波段吸收峰M0、红波段吸收峰M1的SAI的乘积构成,C2由对叶片水分含量敏感的近红外波段吸收峰M2与M3的SAI的乘积构成。
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