[发明专利]光检测装置以及光检测方法在审
申请号: | 201610459033.1 | 申请日: | 2016-06-22 |
公开(公告)号: | CN106361269A | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 西胁青儿 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 柯瑞京 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种光检测装置,具备第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向被摄体照射中心波长为比第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,第2透射波长的半值宽度与第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在至少1个第1区域进行透射后的第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在至少1个第2区域进行透射后的第3光的第2光量。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种光检测装置,具备:第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向所述被摄体照射中心波长为比所述第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在所述被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,所述至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述第2透射波长的半值宽度与所述第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在所述至少1个第1区域进行透射后的所述第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在所述至少1个第2区域进行透射后的所述第3光的第2光量。
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