[发明专利]光检测装置以及光检测方法在审

专利信息
申请号: 201610459033.1 申请日: 2016-06-22
公开(公告)号: CN106361269A 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 西胁青儿 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 柯瑞京
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光检测装置,具备第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向被摄体照射中心波长为比第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短,第2透射波长的半值宽度与第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在至少1个第1区域进行透射后的第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在至少1个第2区域进行透射后的第3光的第2光量。
搜索关键词: 检测 装置 以及 方法
【主权项】:
一种光检测装置,具备:第1光源,其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光;第2光源,其向所述被摄体照射中心波长为比所述第1波长长的第2波长的第2光;光学滤波器,其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域,使在所述被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射,所述至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比所述第1波长长并且比所述第2波长短,所述第2透射波长的半值宽度与所述第1透射波长的半值宽度不同;至少1个第1检测器,其检测在所述至少1个第1区域进行透射后的所述第3光的第1光量;和至少1个第2检测器,其检测在所述至少1个第2区域进行透射后的所述第3光的第2光量。
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