[发明专利]阵列基板及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201610459122.6 申请日: 2016-06-22
公开(公告)号: CN106024706B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 邓永 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12;H01L21/027
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种阵列基板及其制作方法,该方法在氧化物半导体层薄膜上覆盖还原金属层,通过一道光罩制程图案化氧化物半导体层薄膜和还原金属层,同时形成源极图案、漏极图案、像素电极图案、及氧化物半导体层,再利用镭射退火将源极图案、漏极图案、与像素电极图案还原成导体,同时形成源极、漏极、与像素电极,整个制作过程最多仅需要三次光罩制程,相比现有技术,能够有效减少光罩制程的数量,简化制作工艺,降低生产成本,提升TFT的性能,增大阵列基板的开口率。
搜索关键词: 阵列 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),在所述基板(1)上沉积公共电极薄膜(2’),在所述公共电极薄膜(2’)上沉积第一金属层(3’);步骤2、通过第一次光罩制程图案化所述公共电极薄膜(2’)及第一金属层(3’),形成公共电极(2)、及位于所述公共电极(2)上的栅极(31)和公共电极连接线(32);步骤3、在所述基板(1)、公共电极(2)、栅极(31)、及公共电极连接线(32)上自下而上依次沉积栅极绝缘层(4)、氧化物半导体层薄膜(5’)、以及还原金属层(6’);步骤4、通过第二次光罩制程图案化所述氧化物半导体层薄膜(5’)及还原金属层(6’),形成待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、像素电极图案(63’)、及氧化物半导体层(5);所述氧化物半导体层(5)位于所述栅极(31)的上方,所述源极图案(61’)与漏极图案(62’)间隔分布于所述氧化物半导体层(5)的两端并与所述氧化物半导体层(5)相接触,所述漏极图案(62’)与所述像素电极图案(63’)相接触,所述待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)均包括自下而上层叠设置的氧化物半导体层薄膜(5’)和还原金属层(6’);步骤5、对所述待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)进行镭射退火,将所述源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)还原成导体,形成源极(61)、漏极(62)、以及像素电极(63);步骤6、在所述源极(61)、漏极(62)、像素电极(63)、氧化物半导体层(5)、及栅极绝缘层(4)上沉积钝化层(8),完成阵列基板的制作。
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