[发明专利]阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201610459122.6 | 申请日: | 2016-06-22 |
公开(公告)号: | CN106024706B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 邓永 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L21/027 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种阵列基板及其制作方法,该方法在氧化物半导体层薄膜上覆盖还原金属层,通过一道光罩制程图案化氧化物半导体层薄膜和还原金属层,同时形成源极图案、漏极图案、像素电极图案、及氧化物半导体层,再利用镭射退火将源极图案、漏极图案、与像素电极图案还原成导体,同时形成源极、漏极、与像素电极,整个制作过程最多仅需要三次光罩制程,相比现有技术,能够有效减少光罩制程的数量,简化制作工艺,降低生产成本,提升TFT的性能,增大阵列基板的开口率。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),在所述基板(1)上沉积公共电极薄膜(2’),在所述公共电极薄膜(2’)上沉积第一金属层(3’);步骤2、通过第一次光罩制程图案化所述公共电极薄膜(2’)及第一金属层(3’),形成公共电极(2)、及位于所述公共电极(2)上的栅极(31)和公共电极连接线(32);步骤3、在所述基板(1)、公共电极(2)、栅极(31)、及公共电极连接线(32)上自下而上依次沉积栅极绝缘层(4)、氧化物半导体层薄膜(5’)、以及还原金属层(6’);步骤4、通过第二次光罩制程图案化所述氧化物半导体层薄膜(5’)及还原金属层(6’),形成待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、像素电极图案(63’)、及氧化物半导体层(5);所述氧化物半导体层(5)位于所述栅极(31)的上方,所述源极图案(61’)与漏极图案(62’)间隔分布于所述氧化物半导体层(5)的两端并与所述氧化物半导体层(5)相接触,所述漏极图案(62’)与所述像素电极图案(63’)相接触,所述待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)均包括自下而上层叠设置的氧化物半导体层薄膜(5’)和还原金属层(6’);步骤5、对所述待还原的源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)进行镭射退火,将所述源极图案(61’)、漏极图案(62’)、及像素电极图案(63’)还原成导体,形成源极(61)、漏极(62)、以及像素电极(63);步骤6、在所述源极(61)、漏极(62)、像素电极(63)、氧化物半导体层(5)、及栅极绝缘层(4)上沉积钝化层(8),完成阵列基板的制作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610459122.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于家用取暖茶几的智能家居中央控制系统
- 下一篇:智能家具
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造