[发明专利]一种加速度计信号处理电路零偏测试方法有效
申请号: | 201610462608.5 | 申请日: | 2016-06-23 |
公开(公告)号: | CN105974156B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 王丽;张紫乾 | 申请(专利权)人: | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 |
主分类号: | G01P21/00 | 分类号: | G01P21/00 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 耿英;董建林 |
地址: | 215163 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种加速度计信号处理电路零偏测试方法,NI‑USB‑6281接口板通过SPI接口与测试台上的待测加速度计信号处理电路连接;通过PC机上的LABVIEW测试软件控制NI‑USB‑6281接口板和SPI接口,设置待测加速度计信号处理电路的参数,对待测加速度计信号处理电路的EEPROM进行擦、读或写操作,使待测加速度计信号处理电路的输出端发生变化,并将采集的待测加速度计信号处理电路的输出电压利用PC机上的MATLAB软件做艾伦方差计算得出零偏稳定性值。本发明的测试方法,有效的减少了测试时间,提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 加速度计 信号 处理 电路 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种加速度计信号处理电路零偏测试方法,其特征是,NI‑USB‑6281接口板通过SPI接口与测试台上的待测加速度计信号处理电路连接;通过PC机上的LABVIEW测试软件控制NI‑USB‑6281接口板和SPI接口,设置待测加速度计信号处理电路的参数,对待测加速度计信号处理电路的EEPROM进行擦、读或写操作,使待测加速度计信号处理电路的输出端发生变化,并将采集的待测加速度计信号处理电路的输出电压利用PC机上的MATLAB软件做艾伦方差计算得出零偏稳定性值;测试台上的待测加速度计信号处理电路为单片电路或多片电路;承载多片电路的测试台根据温箱内部尺寸的大小设计,多片电路用来同时测试多个温度点指标。
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