[发明专利]脱落检测仪在审

专利信息
申请号: 201610464527.9 申请日: 2016-06-23
公开(公告)号: CN106018272A 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 周云峰;王运涛;张驰 申请(专利权)人: 淮安达方电子有限公司
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04;G01M13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 223001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种脱落检测仪,用于检测键盘的键帽,包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构,当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端,使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端,且在移动过程中,该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力,该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动,且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用,即本发明在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率,降低漏检风险。
搜索关键词: 脱落 检测
【主权项】:
一种脱落检测仪,用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力,该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件,该待测试装置具有相对的第一端和第二端,其特征在于,该脱落检测仪包含:基座,用于放置该待测试装置;移动支架,设置于该基座上方,并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端;测试结构,设置于该移动支架上,用以向该待检测元件提供第一方向上的力,其中,该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向;以及限位结构,设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方,用于与该待测试元件相配合;其中,该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端,使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端,且在移动过程中,该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力,该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动,且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。
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